一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。

 測(cè)量注意事項(xiàng)：1.測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

2.測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

3在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)

4.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

江蘇一六儀器有限公司是一家光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的企業(yè)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。同時(shí)，X射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場(chǎng)分析和過程控制分析等方面shouxuan器之一。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。歡迎咨詢聯(lián)系！

如何選擇測(cè)厚儀的測(cè)點(diǎn)

    如何選擇測(cè)厚儀的測(cè)點(diǎn)位置？我們想要使用測(cè)厚儀測(cè)量物品厚度，前提是有測(cè)點(diǎn)位置，相當(dāng)于我們的需要選擇一個(gè)固定點(diǎn)為零值一樣，如此才能夠測(cè)量出具體厚度。

 1、鋼結(jié)構(gòu)柱、梁,在構(gòu)件長(zhǎng)度方向內(nèi)每隔1m取一截面,測(cè)試構(gòu)件各表面的涂層厚度,計(jì)算所有測(cè)點(diǎn)的平均值作為該根構(gòu)件的涂刷厚度.

   2、桁架結(jié)構(gòu)、梁,在上、下弦和腹桿的長(zhǎng)度方向內(nèi)每隔1m取一個(gè)截面,測(cè)定桿件各表面的涂層厚度,計(jì)算所有測(cè)點(diǎn)的平均值作為該根構(gòu)件的涂層厚度.頂板和鋼樓梯,在每平方范圍內(nèi)選取5個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)定,計(jì)算所有測(cè)點(diǎn)的平均值作為該構(gòu)件的涂層厚度.

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在線測(cè)厚儀跟在線測(cè)厚有什么區(qū)別

    在線測(cè)厚儀與在線測(cè)厚有哪些區(qū)別？對(duì)于需要測(cè)厚的產(chǎn)品來說，了解這個(gè)是必須的，而如果你的產(chǎn)品是需要不停歇的進(jìn)行測(cè)量的話，那么你就應(yīng)該選擇在線測(cè)厚儀了：

“在線測(cè)厚儀” 是一種儀表，區(qū)別于手持儀表，手持儀表在線測(cè)厚儀是你需要用的時(shí)候拿出來測(cè)量一下厚度，平時(shí)放起來，而在線的是一直安裝在那里不停的測(cè)。

   “在線測(cè)厚”是一個(gè)動(dòng)作，不是一臺(tái)儀器，是指在流水線（或者其他工藝環(huán)節(jié)）不斷的實(shí)時(shí)測(cè)量目標(biāo)的厚度的這樣的一個(gè)動(dòng)作。

   在線測(cè)厚儀與在線測(cè)厚雖然只是相差一個(gè)字，但是作用卻天差地遠(yuǎn)，一個(gè)是指儀表一個(gè)則指動(dòng)作。

X射線熒光分析儀的應(yīng)用

一六儀器X射線熒光測(cè)厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

X射線熒光分析儀的不斷完善和發(fā)展所帶動(dòng)的X 射線熒光分析技術(shù)已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、刑偵、考古等諸多部門和領(lǐng)域。測(cè)量范圍：（0~1250）μm（F1、N1測(cè)頭），F(xiàn)10測(cè)頭可達(dá)10mm。X 射線熒光光譜分析不僅成為對(duì)其物質(zhì)的化學(xué)元素、物相、化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、物證材料進(jìn)行試測(cè)，對(duì)產(chǎn)品和材料質(zhì)量進(jìn)行無損檢測(cè)，對(duì)人體進(jìn)檢和微電路的光刻檢驗(yàn)等的重要分析手段，也是材料科學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等普遍采用的一種快速、準(zhǔn)確而又經(jīng)濟(jì)的多元素分析方法。同時(shí)，X 射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場(chǎng)分析和過程控制分析等方面shou  xuan器之一。