防止網(wǎng)絡分析儀損壞的技巧

閱讀警告標簽和儀器技術指標

1、不要使用超過技術資料或儀器黃色警告標簽所指示的值。

2、參考技術資料上所列指標需要滿足的條件。包括建立時間、儀器設置和校準/校正要求。

避免分析儀過載

對所測信號電平有所了解以避免網(wǎng)絡分析儀前端元器件的損壞。前端過載會引起前端部件的損壞。通常射頻輸入信號電平的值為<0.1W至1W或<0.2DCV至2DCV。

1、在打開或關閉所連接的設備或被測器件之前，將其信號電平降低到的安全水平，以避免突然的電壓增大或下降對分析儀的輸入輸出造成影響。

2、必要時使用隔直器、限幅器或外部衰減器。

矢量網(wǎng)絡分析儀優(yōu)勢VNA允許您

矢量網(wǎng)絡分析儀優(yōu)勢 VNA 允許您以其他測試儀器不支持的方式測量諸如反射系數(shù)、阻抗、導納、回波損耗、插入損耗、增益、隔離等復量。 傳統(tǒng)的測試設備（如功率計、頻譜分析儀和示波器）通常只有用于測量被測器件 (DUT) 發(fā)射或創(chuàng)建的信號。而 VNA 則不同，它同時具有一個信號源和一組，用于確定由 DUT 引起的激勵變化?；诩畹臏y試方法允許 VNA 測量非常小的反射和激勵的變化，使您能夠在真實環(huán)境和測試條件下準確檢定任何射頻器件。

一般網(wǎng)絡分析儀提供的二端口矢量校準方法

一般網(wǎng)絡分析儀提供的二端口矢量校準方法為SOLT，通過單端口的分析，其實校準件的本質(zhì)是建立誤差模型方程，選擇不同已知反射系數(shù)的校準件，就得到了很多不同的校準方法，例如LRM，LRRM，TRL等等。 當然校準的本質(zhì)也是去嵌入(De-embedding)的過程，去嵌入的本質(zhì)得到誤差網(wǎng)絡的S參數(shù)，通過轉(zhuǎn)換到T參數(shù)，運用級聯(lián)運算進行消除。去嵌入還能夠消除非傳輸線網(wǎng)絡的S參數(shù)，應用也比校準廣泛。