蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

作為一款通用型測(cè)量工具，SPECTRUM沿襲了ZEISS成熟的測(cè)量設(shè)計(jì)理念，進(jìn)行合理的軟硬件搭配，造就了產(chǎn)品的質(zhì)量

重要特征：

1、超硬鋁制部件保證了整體橋架結(jié)構(gòu)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性

2、采用零膨脹玻璃陶瓷材料光柵尺，大大降低了溫度變化對(duì)測(cè)量結(jié)果的不利影響

3、高度集成的動(dòng)態(tài)C99控制柜，保證了測(cè)量過(guò)程的穩(wěn)定

4、雙操縱桿數(shù)字式控制面板，人體工學(xué)設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)便，內(nèi)嵌LED顯示，信息豐富

當(dāng)一些曲面輪廓既非圓弧，又非拋物線，而是一些不規(guī)則的曲面時(shí)，可用油泥或石膏手工做出曲面作為底胚。然后用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)出各個(gè)截面上的截線、特征線和分型線，用規(guī)定格式輸出，探針半徑補(bǔ)償后造型，在造型過(guò)程中圓滑曲線，從而設(shè)計(jì)制造出全新的模具。

測(cè)量機(jī)能夠?yàn)槟＞吖I(yè)提供質(zhì)量，是模具制造企業(yè)測(cè)量和檢測(cè)的很好選擇。測(cè)量機(jī)在處理不同工作方面的靈活性以及自身的高精度，使其成為一個(gè)仲裁者。

需要注意的事

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在測(cè)量零件時(shí)，是用探針的寶石球與被測(cè)零件表面接觸，接觸點(diǎn)與系統(tǒng)傳輸?shù)膶毷蛑行狞c(diǎn)的坐標(biāo)相差一個(gè)寶石球的半徑，需要通過(guò)校驗(yàn)得到的探針的實(shí)測(cè)半徑值，對(duì)測(cè)量結(jié)果補(bǔ)償修正。

在選擇三坐標(biāo)測(cè)頭的過(guò)程中，常常出現(xiàn)是由預(yù)算決定配置，從而導(dǎo)致配置過(guò)?；蛘吲渲貌蛔愕膶擂吻闆r。

配置三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)頭時(shí)，實(shí)際會(huì)面臨來(lái)自多個(gè)方面的選擇困難，比如“固定式還是旋轉(zhuǎn)式”、“掃描測(cè)頭還是觸發(fā)測(cè)頭”、“三軸聯(lián)動(dòng)還是五軸聯(lián)動(dòng)”、“接觸式測(cè)頭還是光學(xué)測(cè)頭”等等，而且還逃不開預(yù)算的限制。雖然后一項(xiàng)因素有時(shí)能夠起到一票否決的作用，但我們有必要從技術(shù)角度了解各類測(cè)頭的特點(diǎn)及適用場(chǎng)合和限制，以便在綜合條件下能夠選到適宜的測(cè)頭，滿足測(cè)量要求。

接觸式測(cè)頭與光學(xué)測(cè)頭

近年來(lái)流行著一些帶有誤導(dǎo)性的宣傳，導(dǎo)致部分用戶對(duì)光學(xué)測(cè)頭有過(guò)高的期待，例如“用光學(xué)測(cè)頭一掃，零件的所有尺寸都出來(lái)了”等等，這對(duì)光學(xué)測(cè)頭實(shí)際上存在很大的誤解。從目前的狀態(tài)來(lái)說(shuō)，接觸式與光學(xué)測(cè)頭之間主要是相互補(bǔ)充的關(guān)系，而非競(jìng)爭(zhēng)。三維光學(xué)測(cè)頭有不同的分類，比如點(diǎn)光源、線光源、面光源，不同的測(cè)頭其應(yīng)用場(chǎng)合有顯著區(qū)別。我們將光學(xué)測(cè)頭的應(yīng)用大致分成兩類：表面數(shù)字化和三維測(cè)量。