我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類(lèi)生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件，廢電子元件回收，廢線(xiàn)路板回收蘇州電子芯片，蘇州回收手機(jī)排線(xiàn)，手機(jī)板回收，廢舊電容器回收，電解電容回收，蘇州電子元器件，蘇州顯示屏回收及綜合利用等。失效分析技術(shù)/電子元器件電子信息技術(shù)是當(dāng)今新技術(shù)革命的核心，電子元器件是發(fā)展電子信息技術(shù)的基礎(chǔ)。

故障特點(diǎn) /電子元器件

電器設(shè)備內(nèi)部的電子元器件雖然數(shù)量，但其故障卻是有規(guī)律可循的。

半導(dǎo)體器件損壞特點(diǎn)

二、三極管的損壞是PN結(jié)擊穿或開(kāi)路，其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現(xiàn)：一是熱穩(wěn)定性變差，表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)時(shí)正常，工作一段時(shí)間后，發(fā)生軟擊穿；另一種是PN結(jié)的特性變差，用萬(wàn)用表R×1k測(cè)，各PN結(jié)均正常，但上機(jī)后不能正常工作，用R×10或R×1低量程檔測(cè)，就會(huì)發(fā)現(xiàn)其PN結(jié)正向阻值比正常值大。測(cè)量二、三極管可以用指針萬(wàn)用表在路測(cè)量，較準(zhǔn)確的方法是：將萬(wàn)用表置R×10或R×1檔（用R×10檔，不明顯時(shí)再用R×1檔）在路測(cè)二、三極管的PN結(jié)正、反向電阻，正向電阻不太大（正常值），反向電阻足夠大（正向值），表明該P(yáng)N結(jié)正常，反之就值得懷疑，需焊下后再測(cè)。在半導(dǎo)體IC的所有封裝類(lèi)型中，1996～2001年這5年期間，BGA封裝的增長(zhǎng)速度最快。這是電路的二、三極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐，用萬(wàn)用表低阻值檔在路測(cè)量，可以基本忽略外圍電阻對(duì)PN結(jié)電阻的影響。

我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類(lèi)生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件，廢電子元件回收，廢線(xiàn)路板回收蘇州電子芯片，蘇州回收手機(jī)排線(xiàn)，手機(jī)板回收，廢舊電容器回收，電解電容回收，蘇州電子元器件，蘇州顯示屏回收及綜合利用等。如何準(zhǔn)確有效地檢測(cè)元器件的相關(guān)參數(shù)，判斷元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必須根據(jù)不同的元器件采用不同的方法，從而判斷元器件的正常與否。

檢測(cè)方法/電子元器件

光敏電阻的檢測(cè)。

A 用一黑紙片將光敏電阻的透光窗口遮住，此時(shí)萬(wàn)用表的指針基本保持不動(dòng)，阻值接近無(wú)窮大。此值越大說(shuō)明光敏電阻性能越好。若此值很小或接近為零，說(shuō)明光敏電阻已燒穿損壞，不能再繼續(xù)使用。

B 將一光源對(duì)準(zhǔn)光敏電阻的透光窗口，此時(shí)萬(wàn)用表的指針應(yīng)有較大幅度的擺動(dòng)，阻值明顯減些 此值越小說(shuō)明光敏電阻性能越好。若此值很大甚至無(wú)窮大，表明光敏電阻內(nèi)部開(kāi)路損壞，也不能再繼續(xù)使用。

C 將光敏電阻透光窗口對(duì)準(zhǔn)入射光線(xiàn)，用小黑紙片在光敏電阻的遮光窗上部晃動(dòng)，使其間斷受光，此時(shí)萬(wàn)用表指針應(yīng)隨黑紙片的晃動(dòng)而左右擺動(dòng)。如果萬(wàn)用表指針始終停在某一位置不隨紙片晃動(dòng)而擺動(dòng)，說(shuō)明光敏電阻的光敏材料已經(jīng)損壞。

我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類(lèi)生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件，廢電子元件回收，廢線(xiàn)路板回收蘇州電子芯片，蘇州回收手機(jī)排線(xiàn)，手機(jī)板回收，廢舊電容器回收，電解電容回收，蘇州電子元器件，蘇州顯示屏回收及綜合利用等。在不可拆(non-collapsible)BGA器件中，由于前置焊球的緣故，也會(huì)出現(xiàn)“陰影”現(xiàn)象。

精細(xì)間距器件的局限性在于細(xì)引線(xiàn)易彎曲、質(zhì)脆而易斷，對(duì)于引線(xiàn)間的共平面度和貼裝精度的要求很高。 BGA技術(shù)采用的是一種全新的設(shè)計(jì)思維方式，它采用將圓型或者柱狀點(diǎn)隱藏在封裝下面的結(jié)構(gòu)，引線(xiàn)間距大、引線(xiàn)長(zhǎng)度短。這樣，BGA就消除了精細(xì)間距器件中由于引線(xiàn)問(wèn)題而引起的共平面度和翹曲的問(wèn)題。這樣，BGA就消除了精細(xì)間距器件中由于引線(xiàn)問(wèn)題而引起的共平面度和翹曲的問(wèn)題。