亞氣的使用①、換亞氣前，先將瓶內(nèi)氣體空放一下，使瓶嘴沾污的泥土吹干凈。②、接通亞氣表前應(yīng)試一下瓶嘴是否漏氣，發(fā)現(xiàn)漏氣應(yīng)另換一瓶；如不漏氣，把表頭緊固接在亞瓶上。緩慢打開瓶上的一次壓力閥門，使一次壓力表指針逐漸上，然后緩慢調(diào)節(jié)二次表頭的壓力上升到規(guī)定的讀數(shù)：0.15MPa氣源即可(視不同品牌儀器會有一些差異)，并規(guī)定：平時待機狀態(tài)：流量為0.1—0.5L／min激發(fā)前大流量沖洗為5—8L／min激發(fā)流量3—5L／min③、每次新?lián)Q亞氣后，工作曲線必須重新標(biāo)準(zhǔn)化。④、當(dāng)瓶內(nèi)壓力降到15個大氣壓時，需要更換新亞氣；如果在工作過程中發(fā)現(xiàn)激發(fā)斑點呈白點狀，也應(yīng)另換一瓶新亞氣。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

斯派克的客戶在使用火花直讀光譜儀的過程中會遇到各種問題，現(xiàn)小編綜合概況如下，希望對大家有所幫助：

清理火花臺：激發(fā)時金屬材料在火花臺內(nèi)產(chǎn)生黑色沉積物可導(dǎo)致電極與火花臺之間短路，所以火花臺應(yīng)定期清理。方法如下：松開螺絲取下火花臺板及電極（包括墊片和電極上的玻璃套管），用吸塵器清理火花臺內(nèi)部。完畢后將火花臺復(fù)位。

判斷激發(fā)斑點

濃縮（凝聚）放電—激發(fā)點中心處侵蝕均勻并有金屬光澤，此為正常放電表明儀器工作正常；

擴散放電—激發(fā)點呈白色，強度值低，樣品表面無侵蝕，為非正常放電，應(yīng)檢查激發(fā)過程，包括亞氣、試樣等。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

在工業(yè)生產(chǎn)中，由于光電直讀光譜儀分析費用節(jié)省，分析速度快，分析結(jié)果可靠，已被廣泛采用。光電直讀光譜儀由光源部分、聚光部分、分光部分和測光部分所組成。光源部分使試樣激發(fā)發(fā)光；聚光部分是把發(fā)出的光聚集起來導(dǎo)入分光部分；分光部分是將光色散成各元素的譜線；測光部分是用光電法測量各元素的譜線強度，并指示、記錄下來，或是將其測光讀數(shù)換算成為元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)表示出來。目前無論國內(nèi)還是國外的光電直讀光譜儀，基本可按照功能分為4個模塊，即：

1、激發(fā)系統(tǒng)：任務(wù)是通過各種方式使固態(tài)樣品充分原子化，并放出各元素的發(fā)射光譜光。

2、光學(xué)系統(tǒng)：對激發(fā)系統(tǒng)產(chǎn)生出的復(fù)雜光信號進行處理（整理、分離、篩選）。

3、測控系統(tǒng)：測量代表各元素的特征譜線強度，通過各種手段，將譜線的光強信號轉(zhuǎn)化為電腦能夠識別的數(shù)字電信號，控制整個儀器正常運作。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

在實際分析中會受到第三元素的影響，這些干擾從何而來，我們能夠克服它們得到一個好的分析結(jié)果嗎？直讀光譜儀應(yīng)用的過程中受那些干擾?直讀光譜儀中有關(guān)第三元素影響的問題

當(dāng)選擇了不適宜的基體內(nèi)標(biāo)時，由于基體含量的變化造成分析線對相對強度的變化，影響結(jié)果的穩(wěn)定。當(dāng)用鐵內(nèi)標(biāo)進行低合金鋼分析時，要求基體含量基本不變。

第三元素的存在影響試樣的蒸發(fā)過程。蒸發(fā)過程對譜線強度的影響是復(fù)雜的，所得研究規(guī)律還很不完善，仍屬定性的經(jīng)驗規(guī)律。所以分析時應(yīng)采用與試樣組成及組織結(jié)構(gòu)盡量一致的標(biāo)準(zhǔn)樣品或控制樣品。

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