儀一六儀器 快速精準分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析，

微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件.

測厚儀分類：

一、磁性式

二、渦電流式

三、紅外測厚儀

四、電解式（庫倫法）

五、金相測試法

六、非破壞熒光式（X光）

1.渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦liu產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。將測頭垂直接觸工件的測量面，并輕壓測頭的加載套，當測頭與被測工件表面接觸穩(wěn)定后，隨著一聲蜂鳴聲，屏幕將顯示標識和測量值。

2.同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

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X射線測厚儀測量精度的影響因素

X射線源的衰減對于工廠現(xiàn)場的的標定過程中,隨著使用時間的增加,燈管的曲線會發(fā)生變化,在同一電壓下,隨著使用燈管時間的遞加,厚度偏差會越來越大,因此,X射線源的衰減,是影響測量精度的一個主要原因。除了正常使用過程中X射線源會出現(xiàn)衰減,在出現(xiàn)某些故障是,也會發(fā)生突發(fā)性的衰減,出現(xiàn)標準化通過不過,反饋的電壓與工廠現(xiàn)場標準電壓相差巨大,發(fā)生這種情況,X射線測厚儀的測量精度肯定是不準確的。鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃?qū)幽ず駜x---一六儀器歡迎咨詢聯(lián)系X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產(chǎn)生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。

一六儀器X射線熒光測厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準定位及變焦結(jié)構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

不同種類的測厚儀的應用

1、薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。

2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，一六儀器從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。

應用領域：

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業(yè)

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測

衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

電鍍液的金屬陽離子檢測

3、涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.