電子產(chǎn)品的靜電放電測(cè)試及相關(guān)要求

銘瑪電子高頻鋁殼電源價(jià)格是一家設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)生產(chǎn)于一體的專(zhuān)業(yè)高科技生產(chǎn)廠(chǎng)家

實(shí)驗(yàn)實(shí)行：

實(shí)行部位：直接放電施加于利用職員正常使用受試裝備時(shí)大概打仗到的點(diǎn)或面上；間接放電施加于水平耦合板和垂直耦合板。

直接放電模擬了操縱職員對(duì)受試裝備直接打仗時(shí)發(fā)生的靜電放電情況。間接放電則是程度耦合板和垂直耦合板舉行放電，模仿了操作人員對(duì)放置于或安裝在受試設(shè)備附近的物體放電時(shí)的環(huán)境。

直接放電時(shí)，接觸放電為首情勢(shì)；只有在不能用接觸放電的地方（如外貌涂有絕緣層，盤(pán)算機(jī)鍵盤(pán)縫隙等情況）才改用氣隙（氛圍）放電。

間接放電：選用接觸放電方式。試驗(yàn)電壓要由低到高徐徐增長(zhǎng)到規(guī)定率。

差異的產(chǎn)物或產(chǎn)物族標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)的實(shí)施大概根據(jù)產(chǎn)品的特點(diǎn)有規(guī)定的規(guī)定。

實(shí)行結(jié)果：若靜電放電測(cè)試通不外，可能產(chǎn)生如下效果：

1.直接通過(guò)能量交換引起半導(dǎo)體器件的粉碎。

2.放電所引起的電場(chǎng)與磁場(chǎng)厘革，造成設(shè)備的誤動(dòng)作。

東莞市銘瑪電子電器有限公司擁有多年的研發(fā)生產(chǎn)高頻鋁殼電源價(jià)格經(jīng)驗(yàn)，不斷創(chuàng)新，開(kāi)拓新市場(chǎng)。我們堅(jiān)持以人為本，以質(zhì)取勝，誠(chéng)信守信，共同發(fā)展的經(jīng)營(yíng)理念。

導(dǎo)致電快速脈沖試驗(yàn)失敗的原因1

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電快速脈沖對(duì)裝備影響的緣故起因有三種，包括：

1.通過(guò)電源線(xiàn)直接傳導(dǎo)進(jìn)裝備的電源，導(dǎo)致電路的電源線(xiàn)上有過(guò)大的噪聲電壓。

當(dāng)單獨(dú)對(duì)火線(xiàn)或零線(xiàn)注入時(shí)，只管是采取的對(duì)地的共模方式注入，但在火線(xiàn)和零線(xiàn)之間存在著差模干擾，這種差模電壓會(huì)出現(xiàn)在電源的直流輸出端。當(dāng)同時(shí)對(duì)火線(xiàn)和零線(xiàn)入注時(shí)，存在著共模干擾，但對(duì)電源的輸出端影響不大。

2.干擾能量在電源線(xiàn)上傳導(dǎo)的過(guò)程中，向空間輻射，這些輻射能量感應(yīng)到相近的信號(hào)電纜上，對(duì)信號(hào)電纜毗連的電路形成干擾。

3.干擾脈沖信號(hào)直接通過(guò)信號(hào)電纜進(jìn)入設(shè)備電路或在電纜（包羅信號(hào)電纜和電源電纜）上傳輸時(shí)產(chǎn)生的二次輻射能量感應(yīng)進(jìn)電路，對(duì)電路形成干擾。

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壓敏電阻的失效方式

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常見(jiàn)的壓敏電阻失效方式有如下幾種：

1.熱擊穿：因壓敏電阻的荷電率太高，已經(jīng)劣化，內(nèi)部勻稱(chēng)性差汲取的脈沖能量過(guò)大等緣故起因，或造成它的發(fā)熱大于散熱，引起熱瓦解（或局部熱瓦解），最終造成薄缺點(diǎn)穿孔而擊穿。

2.閃絡(luò)：指外部施加的瞬態(tài)電場(chǎng)強(qiáng)度太高，或外部絕緣水平差，在強(qiáng)電場(chǎng)作用下，沿元件則表發(fā)生放電。

3.開(kāi)裂：由于元件本身存在結(jié)構(gòu)應(yīng)力，在元件吸取大量能量時(shí)，因熱應(yīng)力作用而導(dǎo)致開(kāi)裂。偶爾也有短路或開(kāi)路情況發(fā)生。

4.炸裂：由于元件內(nèi)部存在嚴(yán)肅缺陷？（如雜質(zhì)，氣孔等）在元件吸收了很大的脈沖能量時(shí)，局部電流會(huì)集，強(qiáng)大的熱應(yīng)力使元件炸裂。通常伴有開(kāi)路失效環(huán)境。

以上各種失敗，以短路失效較常見(jiàn)。

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