測試， High Current Test耐電流測試

HCT耐電流測試是耐電流測試的一種方法。測試中，孔鏈被施加一恒定的直流電流,使得孔鏈在設(shè)定的時間(t1-t0)內(nèi)升高到設(shè)定的高溫T1，然后繼續(xù)施加此電流,使得孔鏈在溫度T1至T2范圍以內(nèi),保持設(shè)定的時間(t2-t1),然后停止施加電流，使孔鏈冷卻時間(t3-t2),直到達到室溫。耐電流參數(shù)測試儀主要特點如下雙面測試對于測試樣品孔鏈為在電路板兩面對稱設(shè)計時，儀器可以使用雙面測試，即對兩面的兩個孔鏈同時施加測試電流，測試上表面孔鏈的溫度。

在測試過程中，需要實時檢測孔鏈的電阻，電流。

耐電流參數(shù)測試儀主要特點如下

雙面測試

對于測試樣品孔鏈為在電路板兩面對稱設(shè)計時，儀器可以使用雙面測試，即對兩面的兩個孔鏈同時施加測試電流，測試上表面孔鏈的溫度。

●初始電阻篩選

可以設(shè)定測試前初始電阻的上下限閥值，符合初始電阻要求的樣品才繼續(xù)進行測試。

●測試過程數(shù)據(jù)曲線顯示

測試過程中，樣品的溫度，溫度變化速度，電阻，電流分別實時動態(tài)顯示。

數(shù)據(jù)曲線均可以雙擊放大進行觀察分析。

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