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發(fā)布時(shí)間:2020-11-08 07:42  
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數(shù)字IC驗(yàn)證綜合知識(shí)
接口的強(qiáng)大功能:一是簡(jiǎn)化模塊之間的連接;二是實(shí)現(xiàn)類和模塊之間的通信??梢哉f(shuō)接口的功能固然強(qiáng)大,但是問題又來(lái)了:
首先,因?yàn)槭聞?wù)交易處理器中的方法采用了層次化應(yīng)用的方式去訪問對(duì)應(yīng)端口的信號(hào),所以我們只能為兩個(gè)相同功能的接口分別編寫兩個(gè)幾乎一樣的事務(wù)交易處理器,為什么呢?因?yàn)椴捎玫氖菍哟位膽?yīng)用,假如設(shè)計(jì)中的某個(gè)引腳名字需要修改,我們只能修改驅(qū)動(dòng)這個(gè)端口的方法!這樣還是有點(diǎn)繁瑣,那么sv中有了虛接口的概念,事情就會(huì)變得更加簡(jiǎn)單了!對(duì)于CDN的SiliconEnsemble而言后端設(shè)計(jì)所需的數(shù)據(jù)主要有是Foundry廠提供的標(biāo)準(zhǔn)單元、宏單元和I/OPad的庫(kù)文件,它包括物理庫(kù)、時(shí)序庫(kù)及網(wǎng)表庫(kù),分別以。
到底是如何操作的呢?
虛接口和對(duì)應(yīng)的通用方法可以把設(shè)計(jì)和驗(yàn)證平臺(tái)分隔開來(lái),保證其不受設(shè)計(jì)改動(dòng)的影響。當(dāng)我們對(duì)一個(gè)設(shè)計(jì)的引腳名字進(jìn)行改動(dòng)的時(shí)候,我們無(wú)須改動(dòng)驅(qū)動(dòng)這個(gè)接口的方法,而是只需要在例化該事務(wù)交易處理器的時(shí)候,給虛接口綁定對(duì)應(yīng)連接的實(shí)體接口即可。以此來(lái)實(shí)現(xiàn)事務(wù)交易處理器的更大重用性。它和DesignCompiler、PhysicalCompiler系列產(chǎn)品集成在一起的,包含功能強(qiáng)大的掃描式可測(cè)性設(shè)計(jì)分析、綜合和驗(yàn)證技術(shù)。
虛接口的定義:
virtual interface_type variable;
虛接口可以定義為類的一個(gè)成員,可以通過構(gòu)造函數(shù)的參數(shù)或者過程進(jìn)行初始化。
虛接口應(yīng)用的具體步驟:
到此,我們就可以在事務(wù)交易處理器中,編寫針對(duì)該接口的通用方法(如request和wait_for_bus),只要針對(duì)虛接口進(jìn)行操作就可以,而該虛接口不針對(duì)特定的具體器件,只有在事務(wù)交易處理器的對(duì)象例化創(chuàng)建時(shí),根據(jù)具體傳遞給他參數(shù)確定。
數(shù)字電路老煉測(cè)試
數(shù)字電路高溫老煉測(cè)試系統(tǒng)是一種用于數(shù)字電路老化篩選的專業(yè)試驗(yàn)設(shè)備,它可實(shí)現(xiàn)在動(dòng)態(tài)老煉過程中對(duì)器件進(jìn)行功能測(cè)試。首先概括介紹了可靠性篩選試驗(yàn)、器件高溫老煉原理和方法等基礎(chǔ)知識(shí),并在闡述數(shù)字電路動(dòng)態(tài)功率老煉和在線功能測(cè)試基本原理的基礎(chǔ)上,對(duì)該系統(tǒng)的硬件組成、工作原理、結(jié)構(gòu)特征、技術(shù)指標(biāo)等方面做了介紹。對(duì)Astro而言,在detailrouting之后,用starRCXT參數(shù)提取,生成的E。
將重點(diǎn)放在系統(tǒng)軟件的開發(fā)和設(shè)計(jì)上。對(duì)用戶需求和軟件設(shè)計(jì)要求分析后,首先根據(jù)系統(tǒng)功能對(duì)軟件進(jìn)行總體設(shè)計(jì),確定了兩個(gè)主功能模塊:功率老煉模塊、功能測(cè)試模塊和三個(gè)輔助模塊:工作電壓控制模塊、測(cè)試器件數(shù)據(jù)庫(kù)管理模塊、結(jié)果處理模塊,并將主模塊細(xì)分出若干子功能模塊。然后結(jié)合設(shè)計(jì)語(yǔ)言——Delphi的特點(diǎn),進(jìn)一步詳細(xì)論述了各功能模塊的設(shè)計(jì)和軟件實(shí)現(xiàn),并給出相應(yīng)的程序?qū)崿F(xiàn)界面。 后總結(jié)了該系統(tǒng)軟件的特點(diǎn),并提出了軟件進(jìn)一步完善的方案。主要包括:后端設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單說(shuō)是P&R,像芯片封裝和管腳設(shè)計(jì),floorplan,電源布線和功率驗(yàn)證,線間干擾的預(yù)防和修正,時(shí)序收斂,自動(dòng)布局布線、STA,DRC,LVS等,要求掌握和熟悉多種EDA工具以及IC生產(chǎn)廠家的具體要求。
過程控制計(jì)算機(jī)軟件包
發(fā)展強(qiáng)有力的程序測(cè)試系統(tǒng),是提高程序可靠性的有效手段。但當(dāng)前由于國(guó)內(nèi)軟件包的問世,在測(cè)試范圍、測(cè)試要求和測(cè)試方法等方面,都提出了新的要求,原有的一般程序測(cè)試工具已不能獨(dú)立地、完整地完成測(cè)試任務(wù)。因此,就提出了設(shè)計(jì)新的測(cè)試系統(tǒng)的要求。本文主要是根據(jù)軟件包測(cè)試的新要求,提出了設(shè)計(jì)新的測(cè)試系統(tǒng)的一些準(zhǔn)則。在此基礎(chǔ)上,進(jìn)一步闡明如何根據(jù)這些準(zhǔn)則,來(lái)組成一個(gè)測(cè)試系統(tǒng);并以實(shí)例來(lái)說(shuō)明這種系統(tǒng)的使用對(duì)加速程序測(cè)試和提高其可靠性是有效的;同時(shí),使用也很方便。如果必要在自動(dòng)放置標(biāo)準(zhǔn)單元和宏單元之后,你可以先做一次PNA(powernetworkanalysis)--IRdropandEM。
深圳瑞泰威科技有限公司是國(guó)內(nèi)IC電子元器件的代理銷售企業(yè),專業(yè)從事各類驅(qū)動(dòng)IC、存儲(chǔ)IC、傳感器IC、觸摸IC銷售,品類齊全,具備上百個(gè)型號(hào)。與國(guó)內(nèi)外的東芝、恩智浦、安森美、全宇昕、上海晶準(zhǔn)等均穩(wěn)定合作,保證產(chǎn)品的品質(zhì)和穩(wěn)定供貨。而廣義的集成電路,當(dāng)涉及到行業(yè)(區(qū)別于其他行業(yè))時(shí),也可以包含芯片相關(guān)的各種含義。自公司成立以來(lái),飛速發(fā)展,產(chǎn)品已涵蓋了工控類IC、光通信類IC、無(wú)線通信IC、消費(fèi)類IC等行業(yè)。