手機外殼外觀檢測設(shè)備可以應(yīng)用在哪里？

雖然AOI可用于生產(chǎn)線上的多個位置，各個位置可檢測特殊缺陷，但AOI檢查設(shè)備應(yīng)放到一個可以盡早識別和改正缺陷的位置。有三個檢查位置是主要的：錫膏印刷之后如果錫膏印刷過程滿足要求，那么ICT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量可大幅度的減少。典型的印刷缺陷包括以下幾點：A.焊盤上焊錫不足。B.焊盤上焊錫過多。C.焊錫對焊盤的重合不良。D.焊盤之間的焊錫橋。彤光專門進行手機外殼外觀檢測設(shè)備的銷售服務(wù)，需要的朋友可以前來問價，我們給出的手機外殼外觀檢測設(shè)備的價格都是非常合理的，并且服務(wù)的質(zhì)量也能夠有很好的保障。

手機外殼外觀檢測設(shè)備的圖像檢測

每塊PCB可以采用光學(xué)或者X-ray技術(shù)并運用適當 的運算法則來進行檢查。基于圖像檢查的基本 原理是：每個具有明顯對比度的圖像都是可以 被檢查的。在AOI中存在的主要問題是，當一些檢查對象是 不可見的，或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來了。然而，實際經(jīng)驗和系統(tǒng)化測試都表明，這 些影響是可以通過PCB的設(shè)計來預(yù)防甚至減少的。彤光堅持以客戶服務(wù)至上的原則，提供、專門、周到的服務(wù)和手機外殼外觀檢測設(shè)備服務(wù)，您要是需要手機外殼外觀檢測設(shè)備的話，可以聯(lián)系我們，我們會以周到的服務(wù)讓您滿意。

手機外殼外觀檢測設(shè)備都可以檢查哪些產(chǎn)品？

手機外殼外觀檢測設(shè)備對于印有圖案的PCB也是能夠被檢查的，例如，當元 器件的邊框或元器件本體上的字母單獨出現(xiàn)在組件的某個 區(qū)域從而干擾對其他部分的檢查時，可以手工調(diào)整檢查程 序。盡管如此，在生產(chǎn)允許的范圍內(nèi)，圖案的印刷范圍仍 然有一個較大的選擇，因此，減少非反射性標識印刷（黑 或暗黃）值得加以考慮。另外一個可能出現(xiàn)的情況是需要 有選擇地印刷標識：例如，當某些特定的器件（如霍爾傳 感器）正面向下時就必須印刷成白色；而另一種情況是印 有極性標志的有傾斜角的鉭電容器件；這樣能使標識和背 景形成鮮明的對比，使得檢查的圖像更加清晰。