KOAN 高穩(wěn)恒溫晶振 SC 切晶體之優(yōu)點

a) 開機特性好，SC 切諧振器的熱過沖比 AT 切晶體諧振器約小兩個數(shù)量級，因此 SC 切晶體振蕩器加電后能很快達到頻率穩(wěn)定；

b) 老化小，SC 切晶體的應(yīng)力效應(yīng)很小，由應(yīng)力馳豫引起的老化也??；

c) 幅頻效應(yīng)小，SC 切晶振的幅頻效應(yīng)大約是 AT 切晶振的一半，因此 SC

切晶體的激勵電平可比 AT 切晶體大一個數(shù)量級，老化不會增加；

d) 恒溫晶振 SC 切短期頻率穩(wěn)定性，抗輻射，抗加速度都非常好。

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KOAN 晶振（OCXO ）關(guān)于長期穩(wěn)定性和短期穩(wěn)定性的概念解釋

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對長期頻率穩(wěn)定度這一技術(shù)指標(biāo)，通常不以頻率穩(wěn)定度稱呼，而改稱為老化或者漂移，只有由噪聲引起的頻率不穩(wěn)定性才稱為頻率穩(wěn)定度或者短期頻率穩(wěn)定度，由于環(huán)境溫度，供電電源電壓和振蕩器負(fù)載阻抗變化引起的頻率變化，也不以頻率穩(wěn)定度相稱，依次稱之為頻率溫度特性，電源特性和負(fù)載效應(yīng)。短期頻率穩(wěn)定度可稱為相位噪聲（頻域）與抖動（時域），相位噪聲還可細(xì)分為近端，中端和遠(yuǎn)端相位噪聲，抖動很難表征近端和中端區(qū)域，因此短期穩(wěn)定度是采用頻域表征。短期頻率穩(wěn)定度可稱為相位噪聲（頻域）與抖動（時域），相位噪聲還可細(xì)分為近端，中端和遠(yuǎn)端相位噪聲，抖動很難表征近端和中端區(qū)域，因此短期穩(wěn)定度是采用頻域表征。

KOAN 恒溫晶體振蕩器相位噪聲的形成因素主要三方面

A. 近端相噪主要是晶體 Q 值來決定。高頻晶體有很高的近載波相位噪聲（Close-in Phase Noise）, 因為他們有低的 Q 值和更寬的邊帶；

B. 中端相噪主要是晶體外圍電路(包括 IC)來決定；

C. 遠(yuǎn)端相噪主要是信號輸出(白噪聲)來決定。

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1）相位噪聲：是指信號功率與噪聲功率的比率（C/N），是表征頻率顫抖的技術(shù)指標(biāo)。在對預(yù)期信號既定補償處，以1Hz帶寬為單位來測量相位噪聲；

2）頻譜純度：頻率穩(wěn)定度的一種頻域量度，它通常用信號邊帶的噪聲功率譜中每赫茲帶寬的噪聲功率相對于總信號功率的分貝數(shù)來表示；

3）諧波失真：用不希望的信號頻譜分量與有用信號頻率的諧波關(guān)系描述的非線形失真；

4）再現(xiàn)性：振蕩器經(jīng)過規(guī)定的時間間隔，再加電一段時間后返回原來頻率的能力；

5）輸出功率：施加規(guī)定電壓和規(guī)定負(fù)載下，振蕩器消耗的電能，用電壓與消耗電流的積表示；

6）輸出電壓（正弦波）：施加規(guī)定的電壓和負(fù)載，在規(guī)定的時間內(nèi)達到穩(wěn)定后，用RF表測得的有效值或用示波器測量電壓峰-峰值后換算的有效值。

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