儀器校準(zhǔn)檢測(cè)的介紹。校準(zhǔn)與檢定的異同。校準(zhǔn)和檢定是兩個(gè)不同的概念，但兩者之間有密切的聯(lián)系。校準(zhǔn)一般是用比被校計(jì)量順具精度高的計(jì)量器具(稱為標(biāo)準(zhǔn)器具)與被校計(jì)量器具進(jìn)行比較，以確定被校計(jì)量器具的示值誤差，有時(shí)也包括部分計(jì)量性能，但往往進(jìn)行校準(zhǔn)的計(jì)量器具只需確定示值誤差，如果校準(zhǔn)是檢定工作中示值誤差的檢定內(nèi)容，那樣準(zhǔn)可說(shuō)是檢定工作中的一部分，但校準(zhǔn)不能視為檢定

計(jì)量檢定和計(jì)量校準(zhǔn)的區(qū)別。對(duì)象不同，校準(zhǔn)的對(duì)象是屬于強(qiáng)制性檢定之外的測(cè)量裝置。我國(guó)非強(qiáng)制性檢定的測(cè)量裝置，主要指在生產(chǎn)和服務(wù)提供過(guò)程中大量使用的計(jì)量器具，包括進(jìn)貨檢驗(yàn)、過(guò)程檢驗(yàn)和終產(chǎn)品檢驗(yàn)所使用的計(jì)量器具等。檢定的對(duì)象是我國(guó)計(jì)量法明確規(guī)定的強(qiáng)制檢定的測(cè)量裝置。內(nèi)容不同與結(jié)論不同，校準(zhǔn)的內(nèi)容和項(xiàng)目，只是評(píng)定測(cè)量裝置的示值誤差，以確保量值準(zhǔn)確。

儀器校準(zhǔn)的介紹。系統(tǒng)誤差：對(duì)同一被測(cè)量的多次測(cè)量過(guò)程中，保持恒定或以可預(yù)知方式變化的測(cè)量誤差的分量。幾何量：幾何學(xué)中空間位置、形狀與大小的量。直接測(cè)量法：不必測(cè)量與被測(cè)量有函數(shù)關(guān)系的其他量，而能直接得到被測(cè)量值的測(cè)量方法。影響量：不是被測(cè)對(duì)象但影響被測(cè)量值或測(cè)量?jī)x器示值的量。標(biāo)尺標(biāo)記：指示裝置上，對(duì)應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)已確定的被測(cè)量值的刻線或其他標(biāo)記。

計(jì)量的定義

計(jì)量，按照定義來(lái)說(shuō)，計(jì)量是關(guān)于測(cè)量及應(yīng)用的科學(xué)。我們的生產(chǎn)過(guò)程當(dāng)中有很多參數(shù)需要控制，任何產(chǎn)品都是一樣，科學(xué)實(shí)驗(yàn)是通過(guò)儀器來(lái)測(cè)量一種現(xiàn)象，發(fā)現(xiàn)一種規(guī)律的東西，比如總結(jié)出一個(gè)規(guī)律。溯源法：此核查方法是利用實(shí)驗(yàn)室建立的高一等級(jí)計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)對(duì)核查標(biāo)準(zhǔn)(也就是低一等級(jí)計(jì)量標(biāo)準(zhǔn))進(jìn)行核查。該核查方法依據(jù)相應(yīng)的校準(zhǔn)規(guī)程或者校準(zhǔn)規(guī)程經(jīng)行測(cè)量，通常只做主要的技術(shù)參數(shù)。