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發(fā)布時(shí)間:2021-08-05 13:42  
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耐電流參數(shù)測(cè)試儀 High Current Parameter Tester HCT High current test耐電流測(cè)試儀
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耐電流測(cè)試是測(cè)試PCB產(chǎn)品的孔互聯(lián)可靠性的一種測(cè)試方法。操作方法操作時(shí)必須戴好橡膠絕緣手套、坐椅和腳下墊好橡膠絕緣墊。耐電流測(cè)試是在特殊設(shè)計(jì)的孔鏈上施加一定的直流電流,并持續(xù)一段時(shí)間,電流在孔鏈上產(chǎn)生焦耳熱,熱量傳導(dǎo)到孔附近的基材,基材受熱膨脹, Z方向尺寸變大,產(chǎn)生膨脹應(yīng)力,作用于孔上下焊盤之間,當(dāng)孔的互聯(lián)可靠性不良時(shí),膨脹應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致孔斷裂,從而檢測(cè)出孔的互聯(lián)可靠性不良。
耐電流測(cè)試具有快速的特點(diǎn)。
耐電流測(cè)試具有直觀的特點(diǎn)。
耐電流測(cè)試具有全l面的特點(diǎn),所有印制電路板在制板上均可以設(shè)置孔鏈。
HDI板盲孔互聯(lián)失效原因
除膠渣不凈
去環(huán)氧鉆污或除膠渣是盲孔電鍍個(gè)極為重要的流程,它對(duì)孔壁銅與內(nèi)層銅連接的可靠性起著至關(guān)重要的作用。HCPT耐電流參數(shù)測(cè)試儀也可以用于PCB孔鏈的HCT耐電流測(cè)試。因?yàn)橐粚颖”〉臉渲瑢涌赡軙?huì)使盲孔處于半導(dǎo)通狀態(tài)。在E-TEST測(cè)試時(shí)由于測(cè)針壓力作用可能會(huì)通過(guò)測(cè)試,而板件裝配后就可能發(fā)生開路或接觸失靈等問(wèn)題。然而以手機(jī)板為例,每拼板上大約有7~10萬(wàn)個(gè)盲孔,除膠處理時(shí)難免偶有閃失。
由于目前各廠家的凹蝕藥l水體系都已經(jīng)很完善了,因此只有嚴(yán)密監(jiān)視槽液,在其即將出問(wèn)題之前,當(dāng)機(jī)立斷更換槽液才能保證應(yīng)有的良率。
威太(蘇州)智能科技有限公司位于昆山國(guó)家高新技術(shù)開發(fā)區(qū),是一家專業(yè)提供PCB/PCBA集成測(cè)試系統(tǒng),光學(xué)影像檢測(cè)系統(tǒng),自動(dòng)化測(cè)試解決方案的科技型公司.產(chǎn)品,包括全自動(dòng)激光打標(biāo)影像檢測(cè)機(jī),PCB自動(dòng)高電流測(cè)試機(jī)(HCT), PCB全自動(dòng)多通道高壓測(cè)試機(jī)(Hi-Pot), PCB熱盤高壓測(cè)試機(jī),多通道RF天線測(cè)試系統(tǒng),TDR阻抗測(cè)試系統(tǒng),條形碼批量掃描系統(tǒng)等.
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耐電流測(cè)試是測(cè)試PCB產(chǎn)品的孔互聯(lián)可靠性的一種測(cè)試方法。HDI電路板耐電流測(cè)試,電流電壓怎么得來(lái)的不同的設(shè)計(jì),需要的電流是不同的,建議使用專用儀器測(cè)試,找到合適的電流。耐電流測(cè)試是在特殊設(shè)計(jì)的孔鏈上施加一定的直流電流,并持續(xù)一段時(shí)間,電流在孔鏈上產(chǎn)生焦耳熱,熱量傳導(dǎo)到孔附近的基材,基材受熱膨脹, Z方向尺寸變大,產(chǎn)生膨脹應(yīng)力,作用于孔上下焊盤之間,當(dāng)孔的互聯(lián)可靠性不良時(shí),膨脹應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致孔斷裂,從而檢測(cè)出孔的互聯(lián)可靠性不良。
注意事項(xiàng)
排除故障時(shí),必須切斷電源,由專業(yè)技術(shù)人員進(jìn)行維修.
為了避免意外,操作本儀器時(shí)請(qǐng)戴上橡膠絕緣手套.
儀器空載調(diào)整高壓時(shí),漏電流指示表頭有起始電流,均屬正常,不影響測(cè)試精度.
儀器避免陽(yáng)光正面直射,不要在高溫、潮濕、多塵的環(huán)境中使用或存放.11.儀器使用一年后,必須按照國(guó)家技術(shù)監(jiān)督部門要求、送計(jì)量部門或回廠檢定合格后,方可繼續(xù)使用。