一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測(cè)量面積0.002m㎡  深凹槽20mm以上

鍍層厚度分析儀使用注意事項(xiàng)

1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個(gè)已接地的插座上。

2．鍍層厚度分析儀為精密儀器，建議配備的穩(wěn)壓電源。計(jì)算機(jī)和儀器應(yīng)配備不間斷電源（UPS）。

3．鍍層厚度分析儀應(yīng)特別注意與存在電磁的場(chǎng)合隔離開(kāi)來(lái)。

4．儀器適合在10~40℃（50~104℉）的環(huán)境溫度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間（非冷凝）。在操作過(guò)程中，環(huán)境溫度和濕度應(yīng)保持恒定。

5．儀器曝曬在陽(yáng)光下時(shí)溫度極易超過(guò)50℃。所以請(qǐng)不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器，以避免高溫對(duì)儀器造成損害。

6．為避免短路，嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸。如果液體進(jìn)入儀器，請(qǐng)立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請(qǐng)技術(shù)人員整體檢查儀器。

7．鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場(chǎng)合。

8．不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片，否則會(huì)造成讀數(shù)錯(cuò)誤。

9．不要用任何機(jī)械或化學(xué)的方法清除元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片上的污物。如果必要的話，可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

      X射線熒光測(cè)厚儀操作注意事項(xiàng)：

測(cè)厚儀操作時(shí)候需要注意的：

技術(shù)指標(biāo)：

1 分析元素范圍：Cl（17）-U（92）

2 同時(shí)可分析多達(dá)5層鍍層以上

3 分析厚度檢出限高達(dá)0.01μm

4 多次測(cè)量重復(fù)性高可達(dá)0.01μm

5測(cè)量時(shí)間：5s-300s

6 計(jì)數(shù)率：0-8000cps

測(cè)厚儀操作流程

打開(kāi)儀器開(kāi)關(guān)----在電腦上開(kāi)啟軟件-------開(kāi)高壓鑰匙-------聯(lián)機(jī)------預(yù)熱-----峰位校正------新建程式------選擇相應(yīng)的程式-----測(cè)試樣品----出報(bào)告

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域      

     集成電路是國(guó)民經(jīng)濟(jì)首要突破的行業(yè)，中國(guó)現(xiàn)代制造業(yè)的發(fā)展，集成電路是基礎(chǔ)。如果保證電路板生產(chǎn)的質(zhì)量，電鍍檢測(cè)重中之重！x射線熒光膜厚測(cè)厚儀為集成電路的發(fā)展，PCB線路板加工業(yè)的質(zhì)量保駕護(hù)航。價(jià)格一直是客戶在購(gòu)買時(shí)關(guān)心的問(wèn)題，好質(zhì)量和售后服務(wù)的產(chǎn)品在價(jià)格上面往往比較高，所以客戶在選擇產(chǎn)品時(shí)選擇性價(jià)比高的就需要一定的了解，首先是品牌，其次是客戶調(diào)查，售后服務(wù)等。005mm采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)良好的射線屏蔽作用測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。x射線熒光膜厚測(cè)厚儀可用于電力行業(yè)高壓開(kāi)關(guān)柜所用的鍍銀件厚度測(cè)試，鍍錫測(cè)試。也可以用于首飾類產(chǎn)品的鍍銀層測(cè)厚，PCB線路板的鍍銀厚度分析。 的詳細(xì)信息x射線熒光膜厚測(cè)厚儀可用于電力行業(yè)高壓開(kāi)關(guān)柜所用的鍍銀件厚度測(cè)試，鍍錫測(cè)試。也可以用于首飾類產(chǎn)品的鍍銀層測(cè)厚，PCB線路板的鍍銀厚度分析。

      x射線熒光膜厚測(cè)厚儀已經(jīng)成為電力行業(yè)，PCB行業(yè)，首飾行業(yè)的鍍層分析的常規(guī)手段，比傳統(tǒng)的電解法測(cè)厚儀具有更快的測(cè)試速度和分析精度，也比切片法具有更快的分析效率。