超聲波顯微鏡是通過像素pixel進(jìn)行體現(xiàn)，然而光學(xué)鏡卻以CCD攝像頭為主，也正因為結(jié)構(gòu)上的差異，所以超聲波掃描顯微鏡的價格是普通工顯鏡的數(shù)倍，不僅如此，它們的應(yīng)用領(lǐng)域也有著極大的差距，超聲波掃描顯微鏡幾乎囊括了光學(xué)顯微鏡的所有領(lǐng)域，而且它尤其在材料半導(dǎo)體行業(yè)應(yīng)用更廣。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。


超聲波掃描顯微鏡，英文名是：Scanning Acoustic Microscope，簡稱SAM，由于它的主要工作模式是C模式，因此也簡稱：C-SAM或SAT。北軟檢測SAT頻率高于20KHz的聲波被稱為超聲波。超聲波掃描顯微鏡是理想的無損檢測方式，廣泛的應(yīng)用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。檢測電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋等缺陷（裂紋、分層、空洞等）；通過圖像對比度判別材料內(nèi)部聲阻抗差異、確定缺陷形狀和尺寸、確定缺陷方位。


EMMI偵測的到亮點、熱點(Hot Spot)情況；原來就會有的亮點、熱點(Hot Spot)飽和區(qū)操作中的BJT或MOS(Saturated Or Active Bipolar Transistors /Saturated MOS)動態(tài)式CMOS (Dynamic CMOS)二極管順向與逆向偏壓崩潰 (Forward Biased Diodes /Reverse Biased Diodes Breakdown)偵測不到亮點情況不會出現(xiàn)亮點的故障奧姆或金屬的短路(Ohmic Short / metal Short)亮點被遮蔽之情況埋入式接面的漏電區(qū)(Buried Juncti)金屬線底下的漏電區(qū)(Leakage Sites Under metal)