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發(fā)布時(shí)間:2021-08-16 15:59  
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鋰電池過(guò)充時(shí),電池電壓會(huì)迅速上升,正極的活性物質(zhì)結(jié)構(gòu)變化,產(chǎn)生大量的氣體,放出大量的熱,使鋰電池溫度和內(nèi)部壓力急劇增加,存在隱患。PPTC是作為應(yīng)用廣泛的鋰電池二級(jí)保護(hù)元件,在鋰電池溫度異常持續(xù)升高的情況下,PPTC可以截?cái)噤囯姵氐某潆婋娏鳎苊怆[患出現(xiàn)。常規(guī)PPTC在某些熱帶帶高溫高濕的環(huán)境中,出現(xiàn)失效的情況,究其原因是常規(guī)PPTC受高溫高濕環(huán)境水汽影響導(dǎo)致升阻失效,新型的封裝大大提高了PPTC在高溫高濕環(huán)境中的使用壽命,拓展了PPTC的應(yīng)用場(chǎng)景。根據(jù)Yole的說(shuō)法,到2025年,它將占據(jù)市場(chǎng)近50%的份額。

Dual此封裝形式的特點(diǎn)是引腳全部在兩邊,而且引腳的數(shù)量不算多。它的封裝形式比較多,又可細(xì)分為SOT、SOP、SOJ、SSOP、HSOP及其他。表面貼片封裝根據(jù)引腳所處的位置可分為:Single-ended(引腳在一面)、Dual(引腳在兩邊)、Quad(引腳在四邊)、Bottom(引腳在下面)、BGA(引腳排成矩陣結(jié)構(gòu))及其他。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。也可稱為終段測(cè)試Final Test.在此之前,由于封裝成本較高整片晶元還必須經(jīng)過(guò)針測(cè)Probe Test。然而,盡管近年來(lái)中國(guó)封裝測(cè)試設(shè)備廠商的競(jìng)爭(zhēng)力得到顯著提升,但關(guān)鍵零部件仍需大量從西方國(guó)家進(jìn)口,自給率不足20%。
WLCSP此封裝不同于傳統(tǒng)的先切割晶圓,再組裝測(cè)試的做法,而是先在整片晶圓上進(jìn)行封裝和測(cè)試,然后再切割。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程如下:由晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過(guò)測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過(guò)程。Single-ended此封裝形式的特點(diǎn)是引腳全部在一邊,而且引腳的數(shù)量通常比較少。它又可分為:導(dǎo)熱型,像常用的功率三極管,只有三個(gè)引腳排成一排,其上面有一個(gè)大的散熱片。設(shè)計(jì)、制造、甚至測(cè)試本身,都會(huì)帶來(lái)一定的失效,保證設(shè)計(jì)處理的芯片達(dá)到設(shè)計(jì)目標(biāo),保證制造出來(lái)的芯片達(dá)到要求的良率,確保測(cè)試本身的質(zhì)量和有效。
