許多行業(yè)都需要能夠在極端高溫等惡劣環(huán)境下可靠工作的電子設(shè)備。依照傳統(tǒng)做法，在設(shè)計(jì)需要在常溫范圍之外工作的電子設(shè)備時(shí)，工程師必須采用主動(dòng)或被動(dòng)冷卻技術(shù)，但某些應(yīng)用可能無(wú)法進(jìn)行冷卻，或是電子設(shè)備在高溫下工作時(shí)更為有利，可提升系統(tǒng)可靠性或降低成本。這便提出了影響電子系統(tǒng)方方面面的諸多挑戰(zhàn)，包括硅、封裝、認(rèn)證方法和設(shè)計(jì)技術(shù)。

　高溫測(cè)試詳細(xì)介紹：本測(cè)試是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

　　低溫試驗(yàn)介紹：本試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

　　在我們的大自然環(huán)境中，溫度和濕度是不可分割的兩個(gè)自然因素，不同地區(qū)由于不同的地理位置，產(chǎn)生的溫度、濕度效應(yīng)也各不相同。本試驗(yàn)是用來(lái)確認(rèn)產(chǎn)品在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時(shí)間。

在冷熱沖擊試驗(yàn)當(dāng)中，為關(guān)鍵的是建立起不同材料熱脹冷縮不一致造成的應(yīng)力。實(shí)際熱沖擊可能發(fā)生在受試產(chǎn)品的外部，有關(guān)資料指出不必達(dá)到整個(gè)產(chǎn)品溫度穩(wěn)定，而只要受試產(chǎn)品外表而溫度與試驗(yàn)溫度一致就行。這一意見(jiàn)是雖有一定道理，實(shí)施起來(lái)也有一定困難，因?yàn)椴豢赡茉诋a(chǎn)品表面安裝許多傳感器，此外產(chǎn)品各部分傳熱能力不一致，受試產(chǎn)品內(nèi)部鄰近部件熱容量也不一致，確定起來(lái)有難度。