鋼研納克SparkCCD 6000型火花發(fā)射光譜儀采用高分辨率線陣CCD（Charge-coupled Device）作為檢測(cè)器，實(shí)現(xiàn)全譜掃描，可以廣泛適用于多種基體金屬樣品的全元素成分分析。SparkCCD 6000型火花發(fā)射光譜儀優(yōu)點(diǎn)不再受光電倍增管排布的空間限制，可以任意增加分析元素，無需增加硬件，維護(hù)保養(yǎng)方便。光譜儀激發(fā)光源為激發(fā)能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料，原位單次放電采集技術(shù)有效提高分析精度，網(wǎng)口采集，通用性更強(qiáng)。

1.    采用多個(gè)CCD對(duì)可用范圍內(nèi)的光譜譜線進(jìn)行全譜掃描

2.    激發(fā)能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料

3.    分析應(yīng)用覆蓋面廣泛，與傳統(tǒng)儀器相比，不受通道及基體限制

4.    單板式透鏡架，擦拭時(shí)大大降低對(duì)光室的污染

5.    基于ARM9的儀器狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)

6.    網(wǎng)口采集，通用性更強(qiáng)

7.    固態(tài)吸附阱，防止油氣對(duì)光室的污染，提高長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性

8.    銅火花臺(tái)底座，提高散熱性及堅(jiān)固性能

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直讀光譜儀在檢測(cè)分析過程中由于各種因素的影響產(chǎn)生誤差是在所難免的，比如標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品成分不均勻、組織狀況不一致、光譜性能不穩(wěn)定、樣品表面處理不好、氬氣純度不夠等一個(gè)因素出現(xiàn)問題，就會(huì)影響到光電光譜分析誤差。了解其產(chǎn)生誤差的原因，采取有效的措施進(jìn)行消除或避免誤差，提高直讀光譜儀檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性，是一項(xiàng)十分重要的研究課題。