光時(shí)域反射儀常見問題

光時(shí)域反射儀常見問題

1、 無法存貯測(cè)試結(jié)果

該故障引起的原因可以從以下幾點(diǎn)分析：

（1）存貯容量已滿（2）存貯信息有誤（3）存貯電路損壞

2、 操作個(gè)別選項(xiàng)無反應(yīng)

（1）該選項(xiàng)屬于非正常操作

（2）因個(gè)別按鍵失靈

（3）儀表反應(yīng)緩慢但并非無反應(yīng)

3、光時(shí)域反射儀無法開機(jī)

該故障引起的原因可以從以下幾點(diǎn)分析：

（1）電源供電不正常（2）主板損壞

4、電池?zé)o法充電

（1）電池組芯損壞（2）儀表充電電路損壞

新手使用光纖熔接機(jī)易犯的幾個(gè)錯(cuò)誤（5）

光纖過度彎曲：

   所有的光纜都有自己的小彎曲半徑，因此，我們?cè)谶M(jìn)行光纜施工時(shí)，要注意不能超過光纜的低彎曲半徑，以避免損壞光纜及護(hù)套內(nèi)的光纖。

   過度彎曲發(fā)生在光纜的膨脹圈(slack loop)過緊并被安置在過小的基座，手孔上。類似“雪鞋”的產(chǎn)品用于幫助光纜施工者避免架空膨脹圈過緊的問題。過彎曲還經(jīng)常發(fā)生在施工者采用老鼠耳或者扣條來固定架空光纜時(shí)。

   過度彎曲也會(huì)發(fā)生在熔接盤中。一個(gè)通常的場(chǎng)景就是當(dāng)小的熔接盤和60mm的熔接套管配合使用時(shí)，而不是應(yīng)該的40mm套管。大的套管會(huì)太靠近熔接盤的邊緣，不給光纖留出足夠的彎曲半徑。

   過度彎曲會(huì)帶來什么問題？當(dāng)你用OTDR進(jìn)行測(cè)試時(shí)就能看到問題。過彎曲經(jīng)常只有在用1550nm或者1625nm波長測(cè)試時(shí)才能發(fā)現(xiàn)。通過光標(biāo)的移動(dòng)找到機(jī)器維護(hù)，進(jìn)入清潔電極項(xiàng)，確認(rèn)后，機(jī)器會(huì)自動(dòng)放電清潔及老化電極。多數(shù)單模光纖工作在1310nm下，這個(gè)波長對(duì)彎曲敏感度低一點(diǎn)。然而，今天更多的光纖系統(tǒng)應(yīng)用1550nm和1625nm波長。這些波長對(duì)光纖中的問題更加敏感。那些在1310nm下用OTDR看不出的問題到了這兩個(gè)波長下可能就有很大的問題，而解決之道就是避免過度彎曲。

   光纖彎曲半徑過大帶來信號(hào)衰減 。

OTDR使用中的經(jīng)驗(yàn)與技巧：?附加光纖的使用

附加光纖的使用：

　　附加光纖是一段用于連接OTDR與待測(cè)光纖、長300～2000m的光纖，其主要作用為：前端盲區(qū)處理和終端連接器插入測(cè)量。

　　一般來說，OTDR與待測(cè)光纖間的連接器引起的盲區(qū)很大。在光纖實(shí)際測(cè)量中，在OTDR與待測(cè)光纖間加接一段過渡光纖，使前端盲區(qū)落在過渡光纖內(nèi)，而待測(cè)光纖始端落在OTDR曲線的線性穩(wěn)定區(qū)。（2）、安全放電問題：高壓沖閃法測(cè)試時(shí)，主要放高壓脈沖電容器和測(cè)試電纜的高壓電。光纖系統(tǒng)始端連接器插入損耗可通過OTDR加一段過渡光纖來測(cè)量。如要測(cè)量首、尾兩端連接器的插入損耗，可在每端都加一過渡光纖。