薄膜外觀均勻度檢測(cè)哪家強(qiáng)？

膜材在背光、顯示屏、3C 產(chǎn)品等方面應(yīng)用廣泛，彤光電子科技在背光、模組視覺(jué)檢測(cè)市場(chǎng)占有率的情況下，發(fā)揮自主研發(fā)視覺(jué)軟件的優(yōu)勢(shì)，拓展到上下游材料的外觀檢測(cè)，如擴(kuò)散膜、導(dǎo)光板、偏光片等薄膜的檢測(cè)，已經(jīng)成功在大客戶應(yīng)用。薄膜視覺(jué)檢測(cè)，彤光是終的選擇！ 東莞市彤光電子科技深耕自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域十余載，積淀了濃厚的技術(shù)基礎(chǔ)，完全獨(dú)立自主開發(fā)的軟件獲得了業(yè)內(nèi)客戶的廣泛認(rèn)可，在顯示領(lǐng)域已與國(guó)內(nèi)多家頭部企業(yè)合作，歡迎咨詢了解。彤光外觀均勻度檢測(cè)，賦能新智造。

外觀均勻度檢測(cè)的主要功能是什么？

AOI的漢語(yǔ) 全名 是全自動(dòng) 電子光學(xué) 檢驗(yàn) ，是根據(jù) 光學(xué)原理來(lái)對(duì)電焊焊接 生產(chǎn)制造 中碰到 的普遍 缺點(diǎn) 開展 檢驗(yàn) 的機(jī)器設(shè)備 。 AOI是新盛行 的一種 新式 檢測(cè)技術(shù) ，但發(fā)展趨勢(shì) 快速 ，許多 生產(chǎn)廠家 都發(fā)布 了AOI檢測(cè)設(shè)備 。 外觀均勻度檢測(cè)當(dāng)自動(dòng)識(shí)別 時(shí)，設(shè)備 根據(jù) 監(jiān)控?cái)z像頭 全自動(dòng) 掃描儀 PCB ，圖象 ，檢測(cè) 的點(diǎn)焊 與數(shù)據(jù)庫(kù)查詢 中的達(dá)標(biāo) 的主要參數(shù) 開展 較為 ，歷經(jīng) 圖象處理 ，查驗(yàn) 出PCB 上缺點(diǎn) ，并根據(jù) 顯示屏 或全自動(dòng) 標(biāo)示 把缺點(diǎn) 表明 /標(biāo)識(shí) 出去 ，供維修人員整修 。

外觀均勻度檢測(cè)的關(guān)鍵是什么？

快速圖象數(shù)據(jù)處理方法也是外觀均勻度檢測(cè)系統(tǒng)的關(guān)鍵之一。因?yàn)锳OI檢測(cè)是根據(jù)圖象感測(cè)器方法獲得被測(cè)信息內(nèi)容的，尤其是快速在線監(jiān)測(cè)，圖象數(shù)據(jù)信息有時(shí)候是大量的，為達(dá)到生產(chǎn)節(jié)拍要求，務(wù)必選用快速數(shù)據(jù)處理方法技術(shù)性。會(huì)選用共享內(nèi)存、分布式系統(tǒng)運(yùn)行內(nèi)存多進(jìn)程解決、分布式系統(tǒng)電子計(jì)算機(jī)群集等方法，把極大的圖象分時(shí)圖、分層切分成一小塊數(shù)據(jù)流分析，分散化到群集系統(tǒng)軟件各連接點(diǎn)解決。外觀均勻度檢測(cè)針對(duì)用時(shí)繁雜的優(yōu)化算法，有時(shí)候只靠電子計(jì)算機(jī)CPU難以達(dá)到時(shí)間規(guī)定，還需配置如DSP、GPU和FPGA等硬件配置解決控制模塊，協(xié)作完成迅速繁雜的測(cè)算難點(diǎn)。