如果制作的測試治具使用時間及測試次數(shù)超過15萬次以上選用進口產(chǎn)品較為合適，但進口的探針價格較貴。目前國內(nèi)的制作水平和工藝逐步提高，并且在當前價格大戰(zhàn)的情況下，不少代理商用國產(chǎn)針冒充進口或臺灣產(chǎn)的探針出售。如果測試要求和測試次數(shù)不高的話建議可選用國產(chǎn)探針。探針的質(zhì)量主要對測試治具制作中的測試次數(shù)及接觸是否良好有關(guān)。

測試治具使用前的注意事項：

　　1、選擇正確的測試條件：元器件廠家所給出的器件參考值，代表著要在規(guī)定的測試條件下才能完成，以及允許出現(xiàn)的偏差值。

　　2、選擇合適的測量治具：測量治具是測試治具的重要部分，對于不同的產(chǎn)品，也會有多種測量治具，所以我們要選擇合適的測量治具，這樣不僅能方便快捷的測量，同時還能保證測量的準確性。

　　3、正確的零點校正：測試治具的零點漂移會隨著測試條件的變換或者是測試治具的不同會有所改變，所以對零點的校正也是非常重要的。

　　以上3點是測試治具使用前的注意事項，我們在日常操作過程中除了使用前要注意，在使用后也要注意保養(yǎng)，這樣才能更好的使用測試治具，定期做保養(yǎng)也是非常重要的，可以延長測試治具的使用壽命。

關(guān)于測試治具的應(yīng)用相信大家都清楚，它的應(yīng)用給我們生產(chǎn)產(chǎn)品起著重要的作用，但是不少朋友對測試治具是否可以直接通過設(shè)備電氣性能測試存在疑問。

    測試治具可以接受的是底部的焊點BGA、CSP等組件包，測試治具可以直接在線通過設(shè)備的電氣性能測試，以發(fā)現(xiàn)制造過程中的缺陷和組件故障。組件的類可以簽出的寬容、故障或損壞、內(nèi)存程序的組件值此類錯誤。

    測試治具與針床制作測試夾具、調(diào)試周期長，要精準測量加載的晶體管、可控硅、場效應(yīng)管、流形和電阻器其他缺少設(shè)備的一般和特殊的組件，錯了設(shè)備、 參數(shù)的偏差。

    測試過程可以發(fā)現(xiàn)插錯了元素、缺少設(shè)備、 針可予分開、 焊縫、 PCB 電路、 斷線和其他等故障，特殊IC載板結(jié)構(gòu)，保護探針不受外力損壞，座頭頂蓋的芯片壓塊采用人性化結(jié)構(gòu)，下壓力度平穩(wěn)，保證IC的壓力均勻，不偏移等。