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麗水鍍層測厚儀信賴推薦,一六儀器1

發(fā)布時間:2020-08-11 08:25  

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能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理


江蘇一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設(shè)計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

能量色散X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級X射線。

它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大,用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。

能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

能量色散X射線熒光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射,凡間是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射線熒光光譜儀與物質(zhì)的互相效果首要有熒光、接收和散射三種。

能量色散X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的構(gòu)成元素發(fā)生的特征輻射,經(jīng)過側(cè)里和剖析樣品發(fā)生的x射線熒光,即可獲知樣品中的元家構(gòu)成,獲得物質(zhì)成分的定性和定量信息。



一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設(shè)計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例


測厚儀操作規(guī)程有哪些?測厚儀在使用過程中,如果操作不規(guī)范,很容易導(dǎo)致測厚儀出現(xiàn)故障及問題,因此我們在使用前都需要先了解下測厚儀的操作規(guī)范及一些常見問題的處理方法:


四.安全衛(wèi)生

1、源需由專人保管;

2、應(yīng)有妥善的保管場所(有防盜門、窗和放置源用的鐵皮 柜,距生活區(qū)一米遠);

3、長期不使用時,應(yīng)放置保管場所;

4、衛(wèi)生

5、應(yīng)定期清理主機和探頭外表面,對源鉛罐上表面也要定期清理。



一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設(shè)計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

儀器規(guī)格:

   外形尺寸 :550 mm x 660mm x 470 mm (長x寬x高)

   樣品倉尺寸 :500mm×660 mm ×215mm (長x寬x高)

   儀器重量 :55kg

   供電電源 :交流220±5V

    zui da功率 :330W

   環(huán)境溫度:15℃-30℃

   環(huán)境相對濕度:<70%


涂層測厚儀操作規(guī)程有哪些

   我們在使用涂層測厚儀時,如果不了解涂層測厚儀的操作規(guī)程,那么就很容易出現(xiàn)一些問題,甚至嚴重的可能會對自身產(chǎn)生威脅,那么涂層測厚儀的操作規(guī)程有哪些,下面就來了解下先:

 一、操作注意事項

  1. 如果在測量中測頭放置不穩(wěn),會引起測量值與實際值偏差較大;

  2.  如果已經(jīng)進行了適當?shù)男?,所有的測量值將保持在一定的誤差 范圍內(nèi);

  3. 儀器的任何一個測量值都是五次看不見的測量平均值;

  4.  為使測量更加準確,可在一個點多次測量,并計算其平均值作為 終的測量結(jié)果;

  5.  顯示測量結(jié)果后,一定要提起測頭至距離工件10mm以上,才可以 進行下次測量。



X射線熒光分析儀的應(yīng)用

一六儀器X射線熒光測厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析,歡迎來電咨詢!

X射線熒光分析儀的不斷完善和發(fā)展所帶動的X 射線熒光分析技術(shù)已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、刑偵、考古等諸多部門和領(lǐng)域?!霸诰€測厚”是一個動作,不是一臺儀器,是指在流水線(或者其他工藝環(huán)節(jié))不斷的實時測量目標的厚度的這樣的一個動作。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質(zhì)的化學(xué)元素、物相、化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、物證材料進行試測,對產(chǎn)品和材料質(zhì)量進行無損檢測,對人體進檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段,也是材料科學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等普遍采用的一種快速、準確而又經(jīng)濟的多元素分析方法。同時,X 射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場分析和過程控制分析等方面shou  xuan器之一。