溫補振蕩器頻率的調(diào)節(jié)

溫補振蕩器,其采用模擬數(shù)字結(jié)合工藝,利用集成的二極管溫度計測量環(huán)境溫度,利用已知的晶振頻率和溫度的關(guān)系來調(diào)節(jié)晶振頻率.在頻率調(diào)節(jié)上采用數(shù)字減波法.在大大降低電路復雜程度同時,準確的補償了頻率的誤差和溫度漂移,頻率穩(wěn)定性達到了傳統(tǒng)模擬TCXO的水平.通過低次泛音振蕩一倍頻方法實現(xiàn)的高頻溫度補償晶體振蕩器,分解解決了高頻補振蕩器設計中的若干關(guān)鍵性問題,文中以128.466MHz為例,給出了溫度晶振的實驗結(jié)果.

溫補振蕩器組成

溫度補償晶體振蕩器的溫度-電壓補償碼特性曲線測試系統(tǒng),給出了測試系統(tǒng)的總體設計方案,測試服務器的軟硬件設計方法和基于事件驅(qū)動的計算機測試軟件模型.測試系統(tǒng)由計算機,測試服務器,高低溫試驗箱和高精度數(shù)字頻率計等組成,由人工方式設置溫箱溫度,恒溫時間,采用人工或自動方式選擇待測數(shù)字溫度補償振蕩器試件,提取待測數(shù)字溫度補償振蕩器的溫度碼和按溫度頻率穩(wěn)定度設定補償電壓碼,自動生成數(shù)字溫度補償電路所需的Intel-HEX格式的單片機機器碼文件.實驗結(jié)果表明,設計的測試系統(tǒng)能夠滿足高精度數(shù)字溫度補償振蕩器批量生產(chǎn)的需要.

什么叫溫補振蕩器的滯變效應和微擾效應

滯變效應（完整溫度循環(huán)）[3]在一個完整的穩(wěn)態(tài)環(huán)境溫度測試循環(huán)中觀察到的,溫補晶體振蕩器頻率溫度特性不可重復的一種熱致效應（指標多為≤±0.1ppm～≤±0.6ppm）。滯變效應較為簡單的計算方法是只計算一個完整穩(wěn)態(tài)環(huán)境溫度測試循環(huán)前后 25℃時輸出頻率的差值。

微擾效應：主要是由于晶體諧振器制造缺陷造成的,溫補晶體振蕩器輸出頻率圍繞其光滑頻率溫度特性曲線存在跳點的效應（指標多為≤±0.1ppm～≤±1.0ppm）。微擾效應一般不做100％參數(shù)測試,廠家通常采用另外一種有效的方法,即通過篩選微擾效應小的晶體揩振器來做到設計參數(shù)的保證。