掃描電鏡和透射電鏡設(shè)備的不同點(diǎn):高分辨率

掃描電鏡和透射電鏡設(shè)備的不同點(diǎn)：

　　高分辨率臺(tái)式掃描電鏡使用—組特定的線圈以光柵樣式掃描樣品并收集散射的電子。

　　透射電鏡是使用透射電子，收集透過(guò)樣品的電子。因此，透射電鏡提供了樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，如晶體結(jié)構(gòu)，形態(tài)和應(yīng)力狀態(tài)信息，而掃描電鏡則提供了樣品表面及其組成的信息。

　　而且，這兩種設(shè)備的差別之一是它們可以達(dá)到的空間分辨率;掃描電鏡的分辨率被限制在～0.5nm，而隨著近在球差校正透射電鏡中的發(fā)展，已經(jīng)報(bào)道了其空間分辨率甚至小于50pm。

掃描電鏡的結(jié)構(gòu)是什么?

掃描電鏡的結(jié)構(gòu)

掃描電鏡是針對(duì)臺(tái)式電鏡設(shè)計(jì)的，本著臺(tái)式電鏡簡(jiǎn)單易用，利用半導(dǎo)體制冷，無(wú)需額外冷卻系統(tǒng)，是一款具有處理所有類型材料能力的分析儀器，可以提供成像質(zhì)量，配備X射線能譜儀接口，并有X射線幾何設(shè)計(jì)，可對(duì)所有樣品進(jìn)行分析，對(duì)于非導(dǎo)體采用電子束襯管技術(shù)也提高了圖像質(zhì)量和分析精度。

　　掃描電鏡先進(jìn)的X射線幾何結(jié)構(gòu)以及標(biāo)配能譜儀和波譜儀，可變電壓功能用于分析較少制備的非接觸式樣品，可移動(dòng)的顯微鏡樣品臺(tái)用于觀察大型樣品，是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、X射線能譜分析系統(tǒng)。

臺(tái)式掃描電鏡對(duì)生物智能材料的研究

生物智能材料一直是材料領(lǐng)域的熱門方向，尤其是在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用，其點(diǎn)滴的創(chuàng)新都能對(duì)科技發(fā)展起到推動(dòng)作用。但由于其選材覆蓋面廣泛、結(jié)構(gòu)尺寸微小，所以對(duì)掃描電鏡的綜合觀測(cè)能力具有較高的要求。

電鏡Phenom ProX具有150,000的放大倍數(shù)、8nm的分辨率，輕松觀測(cè)納米尺度，如液態(tài)金屬納米球；

· 采用背散射、二次電子雙探頭，輕松獲取原子序數(shù)和表面形貌襯度圖像，為客戶提供更多的樣品信息；

· 能譜分辨率達(dá) 123eV，分析樣品中元素的分布和含量；

· 電鏡具有的真空設(shè)計(jì)，即使面對(duì)導(dǎo)電性較差的樣品，也可直接觀測(cè)，無(wú)需噴金，如圖所示未噴金的聚（PS）小球，基本沒(méi)有出現(xiàn)荷電現(xiàn)象；

· 電鏡操作十分簡(jiǎn)便、，經(jīng)過(guò)一日的系統(tǒng)培訓(xùn)即可獨(dú)立操作，數(shù)分鐘即可完成一個(gè)樣品的觀測(cè)，大大提升了測(cè)試效率。

掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)

掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)

為透射電鏡是TE進(jìn)行成像的，這就要求樣品的厚度一定要確保在電子束可以穿透的尺寸范圍內(nèi)。因此就需要通過(guò)各種較為繁雜的樣品制備手段把大尺寸樣品轉(zhuǎn)變到透射電鏡能給接受的程度。

　　可不可以直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像，成為科學(xué)家追求的目標(biāo)。

　　通過(guò)努力，這種想法已成為現(xiàn)實(shí)——掃描電子顯微鏡(ScanningElectronicMicroscopy,SEM)。

　　掃描電子顯微鏡（SEM）——運(yùn)用特別細(xì)的電子束在被觀測(cè)樣品表面上進(jìn)行掃描，通過(guò)分別收集電子束和樣品相互作用產(chǎn)生的一系列電子信息，通過(guò)轉(zhuǎn)換、放大而成像的電子光學(xué)儀器。是探索研究三維表層構(gòu)造很有幫助的工具。