EMC測試介紹

EMC測試分為電磁干擾EMI和電磁敏感性，即抗干擾EMS，靜電放電抗擾度是EMS中的一個測試項目，因為帶靜電的物體進行放電時會產(chǎn)生放電電流，這個放電電流會產(chǎn)生短暫的強度很大的電磁場。放電時產(chǎn)生短暫的放電電流和相應(yīng)的電磁場可能引起電氣、電子設(shè)備的電路發(fā)生故障，甚至損壞。靜電放電試驗的目的就是檢驗電氣、電子設(shè)備在遭受這類靜電放電騷擾時的性能。

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什么是通信端CE

通信端CE、測試頻段同上，此處描述的通信端指得是針對接駁到公網(wǎng)的端口，如網(wǎng)口、ISDN口等才有CE測試要求，而對于接終端的信號端口如音視頻端口則無CE要求。

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電磁兼容的發(fā)展

電磁兼容技術(shù)的迅速發(fā)展，電和磁無時無刻不在影響著人們的生活及生產(chǎn)，電磁能的廣泛應(yīng)用，使工業(yè)技術(shù)的發(fā)展日新月異。電磁能在為人類創(chuàng)造巨大財富的同時，也帶來一定的危害，被稱為電磁污染，研究電磁污染是環(huán)境保護中的重要分支。以往人們把無線電通訊裝置受到的干擾，稱為電磁干擾，表明裝置受到外部干擾侵入的危害，其實它本身也對外部其他裝置造成危害，即成為干擾源。因此必須同時研究裝置的干擾和被干擾，對裝置內(nèi)部的組織和裝置之間要注意其相容性。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，日益廣泛采用的微電子技術(shù)和電氣化的逐步實現(xiàn)，形成了復(fù)雜的電磁環(huán)境。不斷研究和解決電磁環(huán)境中設(shè)備之間以及系統(tǒng)間相互關(guān)系的問題，促進了電磁兼容技術(shù)的迅速發(fā)展。

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電磁兼容設(shè)計要求

在進行電磁兼容設(shè)計時要求：①明確系統(tǒng)的電磁兼容指標(biāo)。電磁兼容設(shè)計包括本系統(tǒng)能保持正常工作的電磁干擾環(huán)境和本系統(tǒng)干擾其它系統(tǒng)的允許指標(biāo)。②在了解本系統(tǒng)干擾源、被干擾對象、干擾途徑的基礎(chǔ)上，通過理論分析將這些指標(biāo)逐級分配到各分系統(tǒng)、子系統(tǒng)、電路和元件、器件上。③根據(jù)實際情況，采取相應(yīng)措施抑制干擾源，消除干擾途徑，提高電路的抗干擾能力。④通過實驗來驗證是否達到了原定的指標(biāo)要求，如未達到則進一步采取措施，循環(huán)多次，直至達到原定指標(biāo)為止。

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