蘇州芯艾藍(lán)光電材料有限公司（New era），坐落于蘇州昆山市正儀新城路102號，公司主要的經(jīng)營范圍為光電材料、電子科技、軟件科技領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓；光電產(chǎn)品、半導(dǎo)體材料、儀器儀表、自動(dòng)化設(shè)備、計(jì)算機(jī)設(shè)備、辦公設(shè)備、電動(dòng)工具、五金產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、銷售、上門維修、租賃服務(wù)等；光學(xué)顯微鏡的種類很多，除一般的外，主要有暗視野顯微鏡一種具有暗視野聚光鏡，從而使照明的光束不從中央部分射入，而從四周射向標(biāo)本的顯微鏡。貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)

顯微鏡是由一個(gè)透鏡或幾個(gè)透鏡的組合構(gòu)成的一種光學(xué)儀器，是人類進(jìn)入原子時(shí)代的標(biāo)志。主要用于放大微小物體成為人的肉眼所能看到的儀器。顯微鏡分光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡：光學(xué)顯微鏡是在1590年由荷蘭的詹森父子所首創(chuàng)。凡具有雙折射的物質(zhì)，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法來進(jìn)行觀察，但有些則不可用，而必須利用偏光顯微鏡。現(xiàn)在的光學(xué)顯微鏡可把物體放大1600倍，分辨的i小極限達(dá)波長的1/2，國內(nèi)顯微鏡機(jī)械筒長度一般是160毫米，其中對顯微鏡研制，微生物學(xué)有巨大貢獻(xiàn)的人為列文虎克、荷蘭籍。

蘇州芯艾藍(lán)光電材料有限公司（New era），坐落于蘇州昆山市正儀新城路102號，公司主要的經(jīng)營范圍為光電材料、電子科技、軟件科技領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓；光電產(chǎn)品、半導(dǎo)體材料、儀器儀表、自動(dòng)化設(shè)備、計(jì)算機(jī)設(shè)備、辦公設(shè)備、電動(dòng)工具、五金產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、銷售、上門維修、租賃服務(wù)等；1665年，R·Hooke(羅伯特·胡克)：「細(xì)胞」名詞的由來便由胡克利用復(fù)合式顯微鏡觀察軟木的木栓組織上的微小氣孔而得來的。貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)

電子顯微鏡有與光學(xué)顯微鏡相似的基本結(jié)構(gòu)特征，但它有著比光學(xué)顯微鏡高得多的對物體的放大及分辨本領(lǐng)，它將電子流作為一種新的光源，使物體成像。自1938年Ruska發(fā)明第i一臺透射電子顯微鏡至今，除了透射電鏡本身的性能不斷的提高外，還發(fā)展了其他多種類型的電鏡。如掃描電鏡、分析電鏡、超高壓電鏡等。結(jié)合各種電鏡樣品制備技術(shù)，可對樣品進(jìn)行多方面的結(jié)構(gòu) 或結(jié)構(gòu)與功能關(guān)系的深入研究。1952年，Nomarski(諾馬斯基)：發(fā)明干涉相位差光學(xué)系統(tǒng)。顯微鏡被用來觀察微小物體的圖像。常用于生物、醫(yī)i藥及微小粒子的觀測。電子顯微鏡可把物體放大到200萬倍。

蘇州芯艾藍(lán)光電材料有限公司（New era），坐落于蘇州昆山市正儀新城路102號，公司主要的經(jīng)營范圍為光電材料、電子科技、軟件科技領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓；光電產(chǎn)品、半導(dǎo)體材料、儀器儀表、自動(dòng)化設(shè)備、計(jì)算機(jī)設(shè)備、辦公設(shè)備、電動(dòng)工具、五金產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、銷售、上門維修、租賃服務(wù)等；早于1590年，荷蘭和意大利的眼鏡制造者已經(jīng)造出類似顯微鏡的放大儀器。貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)

1930年，Lebedeff(萊比戴衛(wèi))：設(shè)計(jì)并搭配第i一架干涉顯微鏡。另外由Zernicke(卓尼柯)在1932年發(fā)明出相位差顯微鏡，兩人將傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡延伸發(fā)展出來的相位差觀察使生物學(xué)家得以觀察染色活i細(xì)胞上的種種細(xì)節(jié)。1941年，Cooins(昆氏)：將抗i體加上螢光染劑用以偵測細(xì)胞抗原。1952年，Nomarski(諾馬斯基)：發(fā)明干涉相位差光學(xué)系統(tǒng)。反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質(zhì)進(jìn)行研究鑒定的必備儀器，可供廣大用戶做單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察。此項(xiàng)發(fā)明不僅享有權(quán)并以發(fā)明者本人命名之。1981年，Allen and Inoue(艾倫及艾紐)：將光學(xué)顯微原理上的影像增強(qiáng)對比，發(fā)展趨于完i美境界。