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淮北膜厚測試儀的用途和特點「在線咨詢」

發(fā)布時間:2020-11-14 02:04  

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一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀 

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測量面積0.002m㎡  深凹槽20mm以上

鍍層厚度分析儀使用注意事項

1.儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個已接地的插座上。

2.鍍層厚度分析儀為精密儀器,建議配備的穩(wěn)壓電源。計算機和儀器應配備不間斷電源(UPS)。

3.鍍層厚度分析儀應特別注意與存在電磁的場合隔離開來。

4.儀器適合在10~40℃(50~104℉)的環(huán)境溫度下操作使用,在0~50℃(32~122℉)的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間(非冷凝)。在操作過程中,環(huán)境溫度和濕度應保持恒定。

5.儀器曝曬在陽光下時溫度極易超過50℃。所以請不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器,以避免高溫對儀器造成損害。

6.為避免短路,嚴禁儀器與液體直接接觸。如果液體進入儀器,請立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請技術(shù)人員整體檢查儀器。

7.鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場合。

8.不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標準片,否則會造成讀數(shù)錯誤。

9.不要用任何機械或化學的方法清除元素片或調(diào)校標準片上的污物。如果必要的話,可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。


      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

      X射線熒光測厚儀操作注意事項:

測厚儀操作時候需要注意的:


技術(shù)指標:

1 分析元素范圍:Cl(17)-U(92)

2 同時可分析多達5層鍍層以上

3 分析厚度檢出限高達0.01μm

4 多次測量重復性高可達0.01μm

5測量時間:5s-300s

6 計數(shù)率:0-8000cps

測厚儀操作流程


打開儀器開關(guān)----在電腦上開啟軟件-------開高壓鑰匙-------聯(lián)機------預熱-----峰位校正------新建程式------選擇相應的程式-----測試樣品----出報告

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測厚儀應用領(lǐng)域      

     集成電路是國民經(jīng)濟首要突破的行業(yè),中國現(xiàn)代制造業(yè)的發(fā)展,集成電路是基礎(chǔ)。如果保證電路板生產(chǎn)的質(zhì)量,電鍍檢測重中之重!x射線熒光膜厚測厚儀為集成電路的發(fā)展,PCB線路板加工業(yè)的質(zhì)量保駕護航。價格一直是客戶在購買時關(guān)心的問題,好質(zhì)量和售后服務(wù)的產(chǎn)品在價格上面往往比較高,所以客戶在選擇產(chǎn)品時選擇性價比高的就需要一定的了解,首先是品牌,其次是客戶調(diào)查,售后服務(wù)等。005mm采用高度定位激光,可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護。x射線熒光膜厚測厚儀可用于電力行業(yè)高壓開關(guān)柜所用的鍍銀件厚度測試,鍍錫測試。也可以用于首飾類產(chǎn)品的鍍銀層測厚,PCB線路板的鍍銀厚度分析。 的詳細信息x射線熒光膜厚測厚儀可用于電力行業(yè)高壓開關(guān)柜所用的鍍銀件厚度測試,鍍錫測試。也可以用于首飾類產(chǎn)品的鍍銀層測厚,PCB線路板的鍍銀厚度分析。

      x射線熒光膜厚測厚儀已經(jīng)成為電力行業(yè),PCB行業(yè),首飾行業(yè)的鍍層分析的常規(guī)手段,比傳統(tǒng)的電解法測厚儀具有更快的測試速度和分析精度,也比切片法具有更快的分析效率。