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發(fā)布時間:2020-10-28 16:20  
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X射線熒光鍍層測厚儀
一六儀器快速精準分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進的解譜方法,解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析
微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件.
測厚儀分類:
1.超聲波測厚儀超聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的,但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時會被反射,測量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時間,即可將這間隔時間換算成厚度。2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,滄州歐譜從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。在電力工業(yè)中應用廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度,也用于校核工件結構尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的,體積與小型半導體收音機相近,厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對于鋼材,大測定厚度達2000 mm左右,精度在±0.01~±0.1 mm之間。
2.磁性測厚儀在測定各種導磁材料的磁阻時,測定值會因其表面非導磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。
X射線熒光光譜法原理研究
一六儀器 光譜測厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家 一六儀器一liu品質(zhì),可同時檢測多層材料鍍層厚度(含有機物)及成分.操作簡單方便.厚度含量測試只需要幾秒鐘,多小多復雜的樣品輕松搞定,歡迎來電咨詢!
X射線
德國物理學家倫琴在研究稀薄氣體放電實驗時,采用了一種特殊裝置,此裝置發(fā)射電子,在陰極相對的位置裝置金屬陽極,在陰陽兩極之間加以高電壓,當容器充有稀薄氣體時,氣體中可觀察到放電現(xiàn)象,試驗中發(fā)現(xiàn)的這種未知射線,倫琴命名為X射線。第二,在X射線測厚儀通過施加高壓釋放出X射線時,X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會影響X射線對被測物體的測量。對X射線定義為:電子在原子核附近加速或核外內(nèi)層電子能級間發(fā)生躍遷時所發(fā)射的電磁輻射。


江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術企業(yè)。
我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領域。
涂層測厚儀操作規(guī)程有哪些
我們在使用涂層測厚儀時,如果不了解涂層測厚儀的操作規(guī)程,那么就很容易出現(xiàn)一些問題,甚至嚴重的可能會對自身產(chǎn)生威脅,那么涂層測厚儀的操作規(guī)程有哪些,下面就來了解下先:
一、維護及注意事項
1. 應避免儀器及測頭受到強烈震動;
2. 避免儀器置于過于潮濕的環(huán)境中;
3. 插拔測頭時,應捏住活動外套沿軸線用力,不可旋轉(zhuǎn)測頭,以避 免損壞測頭電纜芯線。
4. 油、灰塵的附著會使測頭線逐漸老化、斷裂,使用后應清除纜線上的污垢。
5. 當儀器出現(xiàn)非正常現(xiàn)象時,請不要拆卸或調(diào)節(jié)任何固定裝配的零件,請交給廠家維修部門檢測、維修。
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X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些
第二,在X射線測厚儀通過施加高壓釋放出X射線時,X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會影響X射線對被測物體的測量。尤其是在熱軋的過程中,測量的空間大X射線途經(jīng)的環(huán)境就比較大,當溫度高時,測量值減小,當溫度低時,測量值則增加。
第三,在測量過程中,被測物體上,可能會有附著物,也會影響測量的精度。比如,在軋制生產(chǎn)中,測量的鋼板上可能會附著著水、油或者氧化物,這都會對X射線測厚儀的測量值造成影響,出現(xiàn)誤差。根據(jù)測定原理的不同,常用測厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。另外,被測量的物體,可能會上下跳動,偏離測量時的位置,這種傾斜也會影響測量的精度。