廣州勱博——粒度計數儀報價

貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個更高的水平，升級版PIDS專利技術（專利號：4953978；5104221）、優(yōu)化的132枚檢測器，保證了儀器分辨率更高，結果更準確，再現(xiàn)性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。

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全自動運算分析功能，多峰自動檢測，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型，提供客觀的報告。升級版PIDS技術提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實現(xiàn)10nm下限峰值測量。PIDS技術不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能強大，真正10nm的測量可使其作為獨立的高分辨率納米粒度分析儀使用。

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內嵌電腦操作系統(tǒng)和熱敏打印機，不用外接電腦上和復印機可立即檢測和復印。具備規(guī)范串行RS232口，能外接電子計算機儲存檢驗結果，便捷數據分類、查找?？砂粗袊幍?、美國藥典、ISO21510等規(guī)范開展校準、校正。依據顧客規(guī)定可有償服務出示高級國家西南計量檢定檢測中心的校正匯報。