牛津儀器工業(yè)分析部（Oxford Instruments IndustrialAnalysis）牛津儀器工業(yè)分析部提供多系列分析工具滿足各個行業(yè)嚴格的質(zhì)量控制要求。第三點要檢查激發(fā)點的位置上是否有微小裂紋，氣孔和砂眼，激發(fā)點有無重疊等，提供給數(shù)據(jù)處理工作時做重要的參考。憑借30多年的XRF技術(shù)經(jīng)驗，牛津儀器的分析系統(tǒng)可以實現(xiàn)各種材料（固體、液體、粉末、糊狀物、油脂、薄膜等）中元素組成的快速、無損檢測，同時也可實現(xiàn)樣品表面涂鍍層厚度或組成分析。X-MET手持式XRF分析儀和移動式直讀光譜儀OES是對現(xiàn)場合金分類及PMI測試、ROHS中有害元素的檢測、質(zhì)量控制尤為重要的工具。我們的OES設(shè)備包括：ARC-MET、FOUNDRY-MASTER、FOUNDRY-MASTER COMPACT、PMI-MASTER PRO、PMI-MASTER SORT、TESTMASTER。Lab-X、Twin-X、ED2000及MDX1000各種XRF光譜儀應(yīng)用于各種不同領(lǐng)域產(chǎn)品的日常分析，如石油產(chǎn)品的硫含量的分析、水泥中鈣含量的分析。我們能提供多款性能可靠的光譜儀供您選擇以滿足您的分析需求。

全新的SPECTROGREEN光譜儀擁有極具競爭力的性價比、且運行成本低。中國科院科技戰(zhàn)略咨詢研究院副院長張鳳舉例說：“在人類基因組計劃開始之初，曾預(yù)計完成測序至少需要15年。即可選擇創(chuàng)新的無吹掃UV-PLUS系統(tǒng)，也可使用低吹掃模式，節(jié)省了亞氣及其他耗材。另外，它不需要額外的冷卻裝置，降低采購和使用成本，完全消除外部冷卻裝置所引發(fā)的故障。

SPECTROGREEN的設(shè)計理念源自于SPECTRO 40年來公認的創(chuàng)新實力和精湛的儀器制造技術(shù)， SPECTRO是世界先的發(fā)射光譜儀供應(yīng)商之一。

SPECTRO通過AMECARE的服務(wù)確保儀器發(fā)揮佳的性能和大的投資回報率。遠程支持（M2M）服務(wù)可在線提供，由遠程在線的SPECTRO技術(shù)專家及時提供技術(shù)支持。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

直讀光譜儀英文名為OES，20世紀80年代隨著計算機和軟件技術(shù)而飛速發(fā)展，主要通過測量樣品被激發(fā)時發(fā)出代表各元素的特征光譜光（發(fā)射光譜）的強度而對樣品進行定量分析的儀器，廣泛應(yīng)用于鑄造，鋼鐵，冶煉以及工、航天航空等諸多領(lǐng)域。

直讀光譜儀按樣品的激發(fā)方式儀器可以分為電火花、電弧和輝光發(fā)電三種類型，應(yīng)用較為廣泛的電光火花源的儀器，按檢測器的種類，可以分為光電倍增管（PMT）和固體檢測器；根據(jù)使用波長的范圍不同，可分為真空型和非真空型直讀光譜儀；根據(jù)儀器結(jié)構(gòu)的不同，有可分為同時型多道直讀光譜儀和掃描型單道直讀光譜儀；按儀器的大小可以分為固定式和便攜式等。但是，對于非常薄鋁箔進行分析時存在一定的困難：分析樣品在預(yù)燃激發(fā)時非常容易被擊穿，在層疊預(yù)燃時又困于將其中滯留的空氣趕跑，導(dǎo)致激發(fā)失敗。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

光譜儀維修必學的準則

“先易后難”：先解決比較容易的問題，再逐步處理比較棘手的故障。適合分析材料：黑色金屬，有色金屬應(yīng)用領(lǐng)域：冶金、機械及其他工業(yè)部門特點：采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損耗。儀器發(fā)生故障時，尤其是發(fā)生比較復(fù)雜的綜合性故障，對于解決這種故障應(yīng)該先從比較容易解決的故障入手，比如：檢修儀器的電路板，應(yīng)先檢查電容、電阻、電感、二極管、三極管、保險絲、接插件、開關(guān)、指示燈等，在排除完這些元件故障后，再檢查集成電路、大功率管、功率模塊、專用傳感器、接口IC、微處理器IC、存儲器IC等，有條有序的檢查。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制