華科智源IGBT測(cè)試儀針對(duì) IGBT 的各種靜態(tài)參數(shù)而研制的智能測(cè)試系統(tǒng)；在調(diào)試期間發(fā)現(xiàn)元件有缺陷或受到損壞，應(yīng)由賣(mài)方負(fù)責(zé)免費(fèi)更換并予以賠償。自動(dòng)化程度高（按照操作人員設(shè)定的程序自動(dòng)工作），計(jì)算機(jī)可以記錄測(cè)試結(jié)果，測(cè)試結(jié)果可轉(zhuǎn)化為文本格式存儲(chǔ)，測(cè)試方法靈活（可測(cè)試器件以及單個(gè)單元和多單元的模塊測(cè)試），安全穩(wěn)定（對(duì)設(shè)備的工作狀態(tài)進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控并與硬件進(jìn)行互鎖），具有安全保護(hù)功能，測(cè)試速度方便快捷。

測(cè)試的IGBT參數(shù)包括：ICES（漏流）、BVCES（耐壓）、IGESF（正向門(mén)極漏流）、IGESR（反向門(mén)極漏流）、VGETH（門(mén)檻電壓／閾值）、VGEON（通態(tài)門(mén)極電壓）、VCESAT（飽和壓降）、ICON（通態(tài)集極漏流）、VF（二極管壓降）、GFS（跨導(dǎo)）、rCE（導(dǎo)通電阻）等全直流參數(shù), 所有小電流指標(biāo)保證1%重復(fù)測(cè)試精度, 大電流指標(biāo)保證2%以?xún)?nèi)重復(fù)測(cè)試精度?？梢苿?dòng)型儀器，使用方便，測(cè)試簡(jiǎn)單快速，立即提供測(cè)試結(jié)果與數(shù)值。

半導(dǎo)體元件全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，可以元件在真正工作狀態(tài)下的電流及電壓，并測(cè)量重要參數(shù)的數(shù)據(jù)，再與原出廠(chǎng)指標(biāo)比較，由此來(lái)判定元件的好壞或退化的百分比。每個(gè)電流模塊，都具有獨(dú)立的供電系統(tǒng)，以便在測(cè)試時(shí)，提供內(nèi)部電路及電池組充電之用； 可選購(gòu)?fù)獠扛邏耗K，執(zhí)行關(guān)閉狀態(tài)參數(shù)測(cè)試如：各項(xiàng)崩潰電壓與漏電流測(cè)量達(dá)2KV。3電流持續(xù)時(shí)間It：10~1000us單個(gè)脈沖或雙脈沖的總時(shí)間。

參數(shù)名稱(chēng) 符號(hào) 參數(shù)名稱(chēng) 符號(hào)

開(kāi)通延遲時(shí)間 td(on) 關(guān)斷延遲時(shí)間 td(off)

上升時(shí)間 tr 下降時(shí)間 tf

開(kāi)通時(shí)間 ton 關(guān)斷時(shí)間 toff

開(kāi)通損耗 Eon 關(guān)斷損耗 Eoff

柵極電荷 Qg

短路電流 ISC / /

可測(cè)量的FRD動(dòng)態(tài)參數(shù)

反向恢復(fù)電流 IRM 反向恢復(fù)電荷 Qrr

反向恢復(fù)時(shí)間 trr 反向恢復(fù)損耗 Erec