大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來(lái)電咨詢！

光譜儀(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)提供豐富選配套件以及客制化光纖?？梢罁?jù)安裝現(xiàn)場(chǎng)需求評(píng)估設(shè)計(jì)。可靈活架設(shè)于各種環(huán)境下的i佳即時(shí)量測(cè)系統(tǒng)。

影響膜厚測(cè)量?jī)x的因素

基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的導(dǎo)電性對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的導(dǎo)電性與材料成分和熱處理方法有關(guān)。使用與樣品金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)膜校準(zhǔn)儀器。

基體金屬厚度

每個(gè)儀器具有賤金屬的臨界厚度。大于此厚度，測(cè)量不受基體金屬厚度的影響。

曲率

試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種效應(yīng)總是隨著曲率半徑的減小而增加。因此，測(cè)量彎曲試樣的表面是不可靠的。