大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

基本規(guī)格

(1) 測試樣品及環(huán)境

(a) 樣品：粉狀樣品

(2) 儀器的功能

(a) 激發(fā)熒光樣品，對熒光光譜進(jìn)行測試。

(b) 為了消除積分球內(nèi)反射的激發(fā)光而激發(fā)的熒光，配有“再激發(fā)修正”功能。

(c) 具有對樣品的量子效率、反射、吸收作測試的功能。

(d) 樣品設(shè)置采用手動方式。

(e) 可實現(xiàn)控溫和量子效率測試同步進(jìn)行的功能。

(3) 儀器的構(gòu)成

(a) 暗箱內(nèi)部置有積分球光學(xué)系統(tǒng)。

(4) 溫控單元

(a) 50 ℃～300℃(cell部分)

(b) 采用加熱器加熱、風(fēng)冷制冷。

(c) 溫控部分的周圍采用冷卻水循環(huán)、斷熱。

(d) 控制用溫度探頭是一個具備獨立的防止過度升溫的溫度探頭。

光纖在極度彎曲后會有可能發(fā)生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內(nèi)，然后放入積分半球內(nèi)。粉狀物用cell用磁鐵固定在樣品口上（使用溫控系統(tǒng)時用無磁鐵的夾具固定）。Xe激發(fā)光（投光光纖）的照射位置可由積分球上方放置的監(jiān)控窗口（圖上顯示）來進(jìn)行確認(rèn)。請將激發(fā)波長設(shè)置到可視光范圍內(nèi)確認(rèn)。

 原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產(chǎn)生的發(fā)光光譜進(jìn)行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統(tǒng)采用了具有高靈敏度、高穩(wěn)定的本公司的光譜儀對光譜進(jìn)行測量。

產(chǎn)品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。