一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

用轉(zhuǎn)移法測(cè)量塑膠產(chǎn)品上涂層時(shí)注意事項(xiàng)：

由于對(duì)塑膠產(chǎn)品上涂層的測(cè)量，如使用超聲波發(fā)測(cè)量時(shí)，經(jīng)常因涂層與基材發(fā)生相溶而沒(méi)有較好的聲波反射面，從而導(dǎo)致測(cè)量失敗或讀值嚴(yán)重偏差。如使用切鍥法，也多有使用不方便和讀數(shù)困難的地方。所以目前便攜式電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠普遍使用轉(zhuǎn)移法測(cè)量塑膠產(chǎn)品上涂層，先在產(chǎn)品上蓋若干小條標(biāo)準(zhǔn)厚度的聚酯薄膜，再用紙基美紋膠壓住兩頭，留出中間部分。江蘇一六儀器X射線熒光鍍層測(cè)厚儀儀器簡(jiǎn)介XTU系列測(cè)厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開(kāi)槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。將該產(chǎn)品放入噴涂線上正常噴涂、烘烤。

一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

薄膜是指在基板的垂直方向上所堆積的1～104的原子層或分子層。在此方向上，薄膜具有微觀結(jié)構(gòu)。

     理想的薄膜厚度是指基片表面和薄膜表面之間的距離。由于薄膜僅在厚度方向是微觀的，其他的兩維方向具有宏觀大小。所以，表示薄膜的形狀，一定要用宏觀方法，即采用長(zhǎng)、寬、厚的方法。因此，膜厚既是一個(gè)宏觀概念，又是微觀上的實(shí)體線度。

      由于實(shí)際上存在的表面是不平整和連續(xù)的，而且薄膜內(nèi)部還可能存在著、雜質(zhì)、晶格缺陷和表面吸附分子等，所以，要嚴(yán)格地定義和測(cè)量薄膜的厚度實(shí)際上是比較困難的。膜厚的定義應(yīng)根據(jù)測(cè)量的方法和目的來(lái)決定。  

經(jīng)典模型認(rèn)為物質(zhì)的表面并不是一個(gè)抽象的幾何概念，而是由剛性球的原子（分子）緊密排列而成，是實(shí)際存在的一個(gè)物理概念。

形狀膜厚：dT是接近于直觀形式的膜厚，通常以u(píng)m為單位。dT只與表面原子（分子）有關(guān)，并且包含著薄膜內(nèi)部結(jié)構(gòu)的影響；

質(zhì)量膜厚：dM反映了薄膜中包含物質(zhì)的多少，通常以μg/cm2為單位，它消除了薄膜內(nèi)部結(jié)構(gòu)的影響（如缺陷、、變形等）；

物性膜厚：dP在實(shí)際使用上較有用，而且比較容易測(cè)量，它與薄膜內(nèi)部結(jié)構(gòu)和外部結(jié)構(gòu)無(wú)直接關(guān)系，主要取決于薄膜的性質(zhì)（如電阻率、透射率等）。

江蘇一六儀器 XTU系列 XTU-BL X熒光光譜儀

儀器規(guī)格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）

   樣品倉(cāng)尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）

   儀器重量 ：55kg

   供電電源 ：交流220±5V

   功率 ：330W

   環(huán)境溫度：15℃-30℃

   環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度實(shí)現(xiàn)的， 根據(jù)不同元素特征X射線波長(zhǎng)的不同來(lái)測(cè)定試樣所含的元素。通過(guò)對(duì)比不同元素譜線的強(qiáng)度可以測(cè)定試樣中元素的含量。通常EDX結(jié)合電子顯微鏡使用，可以對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。

常用的EDX探測(cè)器是硅滲鋰探測(cè)器。當(dāng)特征X射線光子進(jìn)入硅滲鋰探測(cè)器后便將硅原子電離，產(chǎn)生若干電子-空穴對(duì)，其數(shù)量與光子的能量成正比。利用偏壓收集這些電子空穴對(duì)，經(jīng)過(guò)一系列轉(zhuǎn)換器以后變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器，并計(jì)數(shù)能譜中每個(gè)能帶的脈沖數(shù)。江蘇一六儀器X射線熒光光譜測(cè)厚儀產(chǎn)品配置X光金屬鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置為：X射線管，正比計(jì)數(shù)器﹨半導(dǎo)體探測(cè)器，高清攝像頭，高度激光，信號(hào)檢測(cè)電子電路。

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   江蘇一六儀器  X熒光測(cè)厚儀測(cè)試要求：

工作要求：

1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

3 工作電源：交流220±5V

4 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。

5 Max功率 ：330W

6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）

7 樣品倉(cāng)尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）

8 儀器重量 ：55kg

9 分析軟件EFP，可同時(shí)分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析

10 軟件操作人性化封閉軟件，自動(dòng)提示校正和步驟，避免操作錯(cuò)誤

11 X射線裝置：W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管