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發(fā)布時(shí)間:2020-11-14 08:00  

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故障特點(diǎn) /電子元器件

電器設(shè)備內(nèi)部的電子元器件雖然數(shù)量,但其故障卻是有規(guī)律可循的。

半導(dǎo)體器件損壞特點(diǎn)

二、三極管的損壞是PN結(jié)擊穿或開(kāi)路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現(xiàn):一是熱穩(wěn)定性變差,表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)時(shí)正常,工作一段時(shí)間后,發(fā)生軟擊穿;如果焊球形狀不端正,有歪扭現(xiàn)象,說(shuō)明溫度不夠,焊接不充分,焊料再流動(dòng)時(shí)沒(méi)有充分的發(fā)揮自定位效應(yīng)的作用。另一種是PN結(jié)的特性變差,用萬(wàn)用表R×1k測(cè),各PN結(jié)均正常,但上機(jī)后不能正常工作,用R×10或R×1低量程檔測(cè),就會(huì)發(fā)現(xiàn)其PN結(jié)正向阻值比正常值大。測(cè)量二、三極管可以用指針萬(wàn)用表在路測(cè)量,較準(zhǔn)確的方法是:將萬(wàn)用表置R×10或R×1檔(用R×10檔,不明顯時(shí)再用R×1檔)在路測(cè)二、三極管的PN結(jié)正、反向電阻,正向電阻不太大(正常值),反向電阻足夠大(正向值),表明該P(yáng)N結(jié)正常,反之就值得懷疑,需焊下后再測(cè)。這是電路的二、三極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐,用萬(wàn)用表低阻值檔在路測(cè)量,可以基本忽略外圍電阻對(duì)PN結(jié)電阻的影響。



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檢測(cè)方法/電子元器件

中周變壓器的檢測(cè)

A 將萬(wàn)用表?yè)苤罵×1擋,按照中周變壓器的各繞組引腳排列規(guī)律,逐一檢查各繞組的通斷情況,進(jìn)而判斷其是否正常。

B 檢測(cè)絕緣性能 將萬(wàn)用表置于R×10k擋,做如下幾種狀態(tài)測(cè)試:

(1)初級(jí)繞組與次級(jí)繞組之間的電阻值;

(2)初級(jí)繞組與外殼之間的電阻值;

(3)次級(jí)繞組與外殼之間的電阻值。

上述測(cè)試結(jié)果分出現(xiàn)三種情況:

(1)阻值為無(wú)窮大:正常;

(2)阻值為零:有短路性故障;

(3)阻值小于無(wú)窮大,但大于零:有漏電性故障。



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TBGA(載帶型焊球數(shù)組)封裝

TBGA(Tape Ball Grid Array) 是一種有腔體結(jié)構(gòu),TBGA 封裝的芯片與基板互連方式有兩種:倒裝焊鍵合和引線鍵合。芯片倒裝鍵合在多層布線柔性載帶上;用作電路I/O 端的周邊數(shù)組焊料球安裝在柔性載帶下面;它的厚密封蓋板又是散熱器(熱沉),同時(shí)還起到加固封裝體的作用,使柔性基片下面的焊料球具有較好的共面性。芯片粘結(jié)在芯腔的銅熱沉上;芯片焊盤(pán)與多層布線柔性載帶基片焊盤(pán)用鍵合引線實(shí)現(xiàn)互連;用密封劑將電路芯片、引線、柔性載帶焊盤(pán)包封(灌封或涂敷)起來(lái)。在檢查和鑒別BGA器件的缺陷方面,電子測(cè)試通常是無(wú)能為力的,這在很大程度上增加了用于排除缺陷和返修時(shí)的費(fèi)用支出。


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滿足對(duì)BGA器件電子測(cè)試的評(píng)定要求是一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的技術(shù),因?yàn)樵贐GA器件下面選定溯試點(diǎn)是困難的。在檢查和鑒別BGA器件的缺陷方面,電子測(cè)試通常是無(wú)能為力的,這在很大程度上增加了用于排除缺陷和返修時(shí)的費(fèi)用支出。