能量色散X射線熒光光譜儀技術原理

江蘇一六儀器  國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

能量色散X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級X射線。

它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。

能量色散X射線熒光光譜儀技術原理

能量色散X射線熒光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射，凡間是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射線熒光光譜儀與物質的互相效果首要有熒光、接收和散射三種。

能量色散X射線熒光光譜儀是由物質中的構成元素發(fā)生的特征輻射，經(jīng)過側里和剖析樣品發(fā)生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家構成，獲得物質成分的定性和定量信息。

鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀----一六儀器

X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

第二,在X射線測厚儀通過施加高壓釋放出X射線時,X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會影響X射線對被測物體的測量。尤其是在熱軋的過程中,測量的空間大X射線途經(jīng)的環(huán)境就比較大,當溫度高時,測量值減小,當溫度低時,測量值則增加。

第三,在測量過程中,被測物體上,可能會有附著物,也會影響測量的精度。比如,在軋制生產(chǎn)中,測量的鋼板上可能會附著著水、油或者氧化物,這都會對X射線測厚儀的測量值造成影響,出現(xiàn)誤差。另外,被測量的物體,可能會上下跳動,偏離測量時的位置,這種傾斜也會影響測量的精度。測厚儀測厚儀（thicknessgauge）是用來測量材料及物體厚度的儀表。 

一六儀器X射線熒光測厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

不同種類的測厚儀的應用

1、薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。

2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，一六儀器從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。

應用領域：

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業(yè)

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測

衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

電鍍液的金屬陽離子檢測

3、涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

X射線熒光分析儀的應用

X射線熒光分析儀的不斷完善和發(fā)展所帶動的X 射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測，對產(chǎn)品和材料質量進行無損檢測，對人體進檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段，也是材料科學、生命科學、環(huán)境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經(jīng)濟的多元素分析方法。同時，X 射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場分析和過程控制分析等方面shou  xuan器之一。影響涂層測厚儀精準度的因素有哪些影響涂層測厚儀精準度的因素有哪些。