國家檢定規(guī)程的制定發(fā)布是落后于國內外精密儀器制造發(fā)展速度的， 很多帶有計量特性的分析測量設備還沒相應的檢定規(guī)程， 在實際的使用過程中， 需要使用者對測量設備是否滿足預期用途作出判斷。計量確認就是這樣一個過程。在實驗室認可活動中， 檢定和校準是比較常見的兩個詞匯。檢定和校準是量值溯源的手段， 是檢測結果準確性和可靠性的重要保障， 而“ 計量確認” 對大部分通過認可的檢測實驗室還是一個比較陌生的詞匯。

儀器檢測下限，可檢測儀器的訊號，通常用信噪比來表示，當信號與噪聲之比大于等于3時，相當于信號強度的試樣濃度，定義為儀器檢測下限。方法檢測下限，即，某方法可檢測的濃度。通常用低濃度曲線外推法可求的方法檢測下限。美國EPASW-846中規(guī)定方法檢出限：MDL=3.143δ(δ重復測定7次)。樣品檢測下限即，相對于空白可檢測的樣品含量。樣品檢測下限定義為：其信號等于測量空白溶液的信號的標準偏差的3倍時的濃度。

定量限(Limit ofQuantitation, LOQ)

被測組分的濃度能產生比空白足夠大的信號，這個信號能夠被良好實驗室在常規(guī)操作條件下以的置信水平定量檢出，這個濃度就是定量限。一般以產生10倍試劑空白的標準偏差的信號所對應的濃度作為定量限。LOQ隨介質、分析方法和分析對象的不同而不同。

儀器的測定下限和方法的測定下限，檢出限只能粗略的表征體系性能，僅是一種定性的判斷依據，通常不能用于真實分析。測定下限則是痕量或微量分析定量測定的特征指標。