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發(fā)布時(shí)間:2021-07-31 21:36  
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光學(xué)影像測(cè)量?jī)x檢測(cè)是一種常見(jiàn)測(cè)量技術(shù),通過(guò)提供了量化的圖像測(cè)量方式,獲得測(cè)量數(shù)據(jù),從而對(duì)零部件公差尺寸進(jìn)行把控,是機(jī)械、電子制造業(yè),計(jì)量測(cè)試所廣泛使用的一種多用途計(jì)量?jī)x器。
影像測(cè)量?jī)x的誤差來(lái)源有哪些呢? (1)光柵尺記數(shù)的偏差; (2)操作臺(tái)挪動(dòng)時(shí)存有的平行度、角擺產(chǎn)生的偏差; (3)操作臺(tái)兩精l確測(cè)量軸平整度帶的偏差; (4)攝像鏡頭直線光軸與操作臺(tái)不垂直帶的偏差; (5)精l確測(cè)量工作溫度轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的偏差; (6)燈源照明燈具標(biāo)準(zhǔn)的轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的自動(dòng)對(duì)焦和指向偏差。
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一、三維表面形貌儀測(cè)量原理:低相干白光同時(shí)照射樣品和參考平面,被樣品和參考平面反射的兩束白光發(fā)生干涉后由陣列式CMOS探測(cè)器接收,由于探測(cè)器直接與信號(hào)處理芯片(Smart Pixel技術(shù))連接,所以陣列上每個(gè)像素點(diǎn)的信號(hào)都在芯片中完成鎖相放大,背景信號(hào)補(bǔ)償和結(jié)果計(jì)算輸出,成像于計(jì)算機(jī)就實(shí)現(xiàn)了樣品表面的快速三維形貌測(cè)量。 二、三維表面形貌儀技術(shù)特點(diǎn): 1、每秒一百萬(wàn)張二維圖像 2、無(wú)損表面形貌檢測(cè)和分析 3、高精度在線/離線檢測(cè) 4、模塊化設(shè)計(jì),超高集成靈活性 5、無(wú)需苛刻的工作環(huán)境(振動(dòng),噪聲,溫度等) 6、可應(yīng)用于科研和工業(yè)領(lǐng)域