電子產(chǎn)品的靜電放電測試及相關要求

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試驗方法1

該標準規(guī)定的試驗方法有兩種：打仗放電法和氛圍放電法。

打仗放電法：試驗發(fā)生器的電極保持與受試裝備的接觸并由發(fā)生器內的放電開關鼓勵放電的一種實驗方法。

氛圍放電法：將試驗發(fā)生器的充電電極靠近受試裝備并由火花對受試設備鼓勵放電的一種實行方法。

接觸放電是優(yōu)先選擇的試驗方法；空氣放電則用在不能使用接觸放電的場合中。

測試除了對被測樣品直接放電外，還需對水平和垂直耦合板間接放電。

試驗環(huán)境：對空氣放電該尺度規(guī)定了情況條件：環(huán)境溫度：15度-35度，相對濕度：30%-60%RH，大氣壓力：86kpa-106kpa。

對接觸放電該標準為規(guī)定特定的環(huán)境條件。

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浪涌沖擊抗擾度測試

銘瑪電子是一家設計，開發(fā)，生產(chǎn)18v監(jiān)控開關電源設計產(chǎn)品于一體的專業(yè)高科技生產(chǎn)廠家。

固然我們已經(jīng)對直擊雷和傳導雷的災難性粉碎已經(jīng)有較好的防護步調，，但間接雷（如云層，云層間的雷擊，或相近物體遭到的雷擊）仍舊可以在戶外傾軋線上感應浪涌電壓和電流。

別的，在電站或開關站中，大型開關切換剎時，也會在供電線路上感應出大的浪涌電壓和電流。

這兩種浪涌的共同特點是能量特殊大（用能量做比力，靜電放電為皮焦耳級，快速脈沖群為毫焦耳級，雷擊浪涌則為幾百焦耳級，是前兩種干擾能量的百萬倍），但波形較緩（微秒級，而靜電與快速脈沖群是納秒級，以致亞納秒級），重復頻率低。

隨著科學技能的發(fā)展，半導體集成電路和微控制技能分泌到險些全部的范疇，由于半導體集成電路不能遭受過電壓和電流打擊，凡是利用這些元器件的裝備，如智能家電，辦公主動化產(chǎn)物，工業(yè)控制器，電子盤算機，有線和無線通訊體系等電子裝備的浪涌打擊粉碎變亂顯著增長。TTL管輸入端串接22-110Ω電阻，輸出端串接22-47Ω電阻。

雷災告急對象已由對人和情況的劫難性粉碎轉移到對微電子器件裝備破壞上。

電磁兼容范疇所指的浪涌打擊一樣尋常泉源于開關瞬間和雷擊瞬態(tài)。

東莞市銘瑪電子電器有限公司，高可靠性18v監(jiān)控開關電源設計專業(yè)制造商，公司集研發(fā)，生產(chǎn)，銷售及服務為一體。歡迎各界朋友蒞臨參觀，指導和業(yè)務洽談。

壓敏電阻的失效方式

銘瑪電子專業(yè)研發(fā)18v監(jiān)控開關電源設計產(chǎn)品。本著以誠為本，質量至上，以信立人的服務。不斷發(fā)展的我們愿與您共創(chuàng)美好的未來。

常見的壓敏電阻失效方式有如下幾種：

1.熱擊穿：因壓敏電阻的荷電率太高，已經(jīng)劣化，內部勻稱性差汲取的脈沖能量過大等緣故起因，或造成它的發(fā)熱大于散熱，引起熱瓦解（或局部熱瓦解），最終造成薄缺點穿孔而擊穿。

2.閃絡：指外部施加的瞬態(tài)電場強度太高，或外部絕緣水平差，在強電場作用下，沿元件則表發(fā)生放電。

3.開裂：由于元件本身存在結構應力，在元件吸取大量能量時，因熱應力作用而導致開裂。偶爾也有短路或開路情況發(fā)生。

4.炸裂：由于元件內部存在嚴肅缺陷？（如雜質，氣孔等）在元件吸收了很大的脈沖能量時，局部電流會集，強大的熱應力使元件炸裂。通常伴有開路失效環(huán)境。

以上各種失敗，以短路失效較常見。

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