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漳州光譜分析儀按需定制「多圖」

發(fā)布時(shí)間:2020-12-16 09:38  

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一六儀器X射線熒光測(cè)厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。c安裝人員,要進(jìn)行X射線的防護(hù)教育,應(yīng)佩帶劑量測(cè)試筆,穿防護(hù)作業(yè)服,戴防護(hù)眼鏡和手套。

   測(cè)厚儀介紹:可以用來在線測(cè) 量軋制后的板帶材厚度,并以電訊號(hào)的形式輸出。該電訊號(hào)輸給顯示器和自動(dòng)厚度控制系統(tǒng),以實(shí)現(xiàn) 對(duì)板帶厚度的自動(dòng)厚度控制(AGC)。 目前常見的測(cè)厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種,其安放位置均在板帶軋機(jī)的出口或入 口側(cè)。設(shè)計(jì)、安裝測(cè)厚儀時(shí)要在可能的條件下盡量靠近工作輥,目的是降低板厚的滯后調(diào)整時(shí)間。第三,在測(cè)量過程中,被測(cè)物體上,可能會(huì)有附著物,也會(huì)影響測(cè)量的精度。




儀一六儀器 快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進(jìn)的解譜方法,解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析,

微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件.

測(cè)厚儀分類:


一、磁性式

二、渦電流式

三、紅外測(cè)厚儀

四、電解式(庫(kù)倫法)

五、金相測(cè)試法

六、非破壞熒光式(X光)

具體講下渦流測(cè)厚儀原理如下:


1.渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí),由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流,此渦liu產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈,使其阻抗發(fā)生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān),因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

2.同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理,可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片,塑料膜,紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。


X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級(jí)X射線照射待測(cè)樣品時(shí)所產(chǎn)生的次級(jí)X射線,入射的X射線具有相對(duì)較大的能量,使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。X射線熒光光譜的波長(zhǎng)在0.01-10納米之間,能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長(zhǎng)的范圍在0.01-11納米之間,能量為0.111-0.124KeV。當(dāng)人射x射線撞擊原子中的電子時(shí),如光子能量大于原子中的電子約束能,電子就會(huì)被擊出。

   當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時(shí),其入射電磁輻射能量必須大于某一個(gè)值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷,這個(gè)值是吸收限,相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。手持式的磁感應(yīng)原理是,利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。