儀器測(cè)帽以一定的力作用于量塊表面

比較測(cè)量時(shí)，儀器測(cè)帽以一定的力作用于量塊表面，此時(shí)量塊表面會(huì)產(chǎn)生一個(gè)彈性壓陷，當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)量塊和被測(cè)量塊材料相同時(shí)，其彈性模數(shù)和表面硬度相同，在標(biāo)準(zhǔn)量塊和被測(cè)量塊表面產(chǎn)生的壓陷深度相同時(shí)，這一影響可以忽略不計(jì)。以鋼量塊作為標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量陶瓷量塊

時(shí)，由于兩者的材料不同，彈性模數(shù)相差非常大，其壓陷量也不相同，從而產(chǎn)生測(cè)量誤差；另外，陶瓷量塊的膨脹系數(shù)為9×10 ℃～，鋼量塊的膨脹系數(shù)為l1．5×1O℃～，當(dāng)實(shí)驗(yàn)室溫度偏離20℃，采用鋼量塊作為標(biāo)準(zhǔn)，如果不進(jìn)行溫度修正，也會(huì)造成測(cè)量誤差。所以，采用比較法測(cè)量陶瓷量塊長(zhǎng)度時(shí)，應(yīng)采用陶瓷量塊作為標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)配以陶瓷材料制成的帶筋工作臺(tái)。

陽(yáng)光直射、高溫、低溫和儲(chǔ)存在高濕度環(huán)境里

儲(chǔ)存注意事項(xiàng) 避免陽(yáng)光直射、高溫、低溫和儲(chǔ)存在高濕度環(huán)境里。如果數(shù)顯卡尺超過三個(gè)月不用，入庫(kù)前卸下電池。在儲(chǔ)存期間，不要讓卡尺的完全封閉。游標(biāo)卡尺是工業(yè)上常用的測(cè)量長(zhǎng)度的儀器，可直接用來測(cè)量精度較高的工件，如軸承的長(zhǎng)度、內(nèi)徑、外徑以及深度等。使用卡尺測(cè)量時(shí)，卡尺的測(cè)量面應(yīng)盡量與被測(cè)物體的測(cè)量面平行或垂直；使用深度測(cè)量時(shí)，如被測(cè)物體有R角時(shí)，需避開R角但緊靠R角，深度尺與被測(cè)高度盡量保持垂直；卡尺測(cè)量圓柱時(shí)，需轉(zhuǎn)動(dòng)且分段測(cè)量取值；因卡尺使用的頻率高，保養(yǎng)工作需要做到，每天使用完后需擦拭干凈后放入盒內(nèi)，使用前需用量塊檢驗(yàn)卡尺的精度。

     測(cè)量?jī)x器是用于檢出或者測(cè)量一個(gè)量或?yàn)闇y(cè)量目的的供給一個(gè)量的器具，測(cè)量?jī)x器是為了取得目標(biāo)物某些屬性值而進(jìn)行衡量所需要的第三方標(biāo)準(zhǔn)，故測(cè)量?jī)x器一般都具有刻度，容積等單位。一般分為接觸試和光學(xué)試測(cè)量?jī)煞N，概念其基本內(nèi)容包括精度、誤差、測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)器材、長(zhǎng)度測(cè)量、角度測(cè)量、形狀測(cè)量、傳統(tǒng)光學(xué)儀器、在精密測(cè)量上的應(yīng)用等。

數(shù)顯卡尺的處理方法有哪些?

首先要正確使用數(shù)顯卡尺，一般情況下故障率較低。出現(xiàn)問題多半由使用環(huán)境不當(dāng)或電池電壓過低所致，偶然也會(huì)出現(xiàn)以下故障：

1．“死機(jī)”——由于偶然受外界強(qiáng)干擾出現(xiàn)顯示值鎖定不動(dòng)。

處理方法：取出電池，過30秒后再重新裝入（有時(shí)需重復(fù)一次或多次）可恢復(fù)正常。

2．顯示閃爍——電池電壓過低，應(yīng)更換新電池（防止電池短路）。

3．?dāng)?shù)字混亂——主要原因有以下四種：

A、保護(hù)膜表面受潮或沾切削液（或其它導(dǎo)電微粒）。處理方法：用干燥清潔的布少許沾濕無(wú)水乙醇或航空，擦凈尺身和保護(hù)膜表面。再輕輕擰一小滴無(wú)水乙醇或航空（注意不要滴太多，否則液體會(huì)進(jìn)入電子組件造成其他問題?。┰诳ǔ叩谋Ｗo(hù)上，來回拉動(dòng)卡尺（目的是把與保護(hù)膜緊密接觸的顯示組件線路板所粘的屏蔽物體也去掉）

B、保護(hù)膜下面的覆銅板定柵條表面因腐蝕氧化變黑影響信號(hào)傳遞。處理方法：揭開保護(hù)膜，用橡皮或金相砂紙擦亮柵條銅皮表面，刷干凈即可。由于舊的保護(hù)膜經(jīng)過撕扯，貼回去會(huì)造成不平整，換新的保護(hù)膜，因?yàn)檫@也是影響精度的因素之一；

C、電子組件損壞——處理方法：更換組件。

D、電池電量不足——處理方法：更換電池。