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發(fā)布時(shí)間:2020-11-13 09:46  
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ATE是Automatic Test Equipment的縮寫(xiě),根據(jù)客戶的測(cè)試要求、圖紙及參考方案,采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開(kāi)發(fā)平臺(tái),利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術(shù)開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)各類(lèi)自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。
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ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展線路 階段 規(guī)劃:1994~1997.9;
規(guī)劃ATE開(kāi)放體系結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)儀器可互換、提高儀器選擇的靈活性
第二階段 規(guī)劃:1997~1999.3;
規(guī)劃ATS開(kāi)放體系結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)TPS可移植與互操作
第三階段 規(guī)劃:1996~2000;
增強(qiáng)UUT全壽命的支持,建立信息共享體系結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)ATS外部接口標(biāo)準(zhǔn)化,便于測(cè)試診斷信息、BIT信息、維護(hù)信息的共享和重用,便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)信息在測(cè)試階段的重用。
第四階段 規(guī)劃:1998~2002.6;
與綜合診斷支持系統(tǒng)、健康管理系統(tǒng)相結(jié)合形成產(chǎn)品長(zhǎng)期維護(hù)支持體系結(jié)構(gòu)。
ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)測(cè)試人員的支持
統(tǒng)一的界面和操作方法,使操作更簡(jiǎn)單,不用重復(fù)學(xué)習(xí);提供了完善的用戶權(quán)限管理機(jī)制和日志功能,具有高度安全性,使測(cè)試數(shù)據(jù)更可信,提供了完善的條碼和生產(chǎn)批次等信息的支持;通過(guò)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)集成大大提高了測(cè)試效率,降低了勞動(dòng)強(qiáng)度;降低誤操作防止測(cè)試設(shè)備損壞。-----------------------------------------------