上海測(cè)厚儀廠家性價(jià)比高,江蘇一六儀器有限公司

發(fā)布時(shí)間：2021-01-18 14:58

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一六儀器專業(yè)測(cè)厚儀多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

XTU-A、XTU-50A：五金產(chǎn)品、緊固件、汽車配件、衛(wèi)浴等，測(cè)量面積大于?0.2mm的產(chǎn)品

?XTU-BL：主要針對(duì)線路板等大平面，但是需要測(cè)試?0.1mm以下，且求購儀器預(yù)算較低的客戶。

?XTU-50B、XTU-4C：可測(cè)試小至?0.05mm測(cè)量面積，且搭載的精密移動(dòng)平臺(tái)和變焦鏡頭（XTU全系列都含有）能滿足各種需求。

江蘇一六儀器 X熒光光譜測(cè)厚儀特點(diǎn)

快速：1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測(cè)量精度要求。

方便：X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口國(guó)際上先進(jìn)的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測(cè)試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補(bǔ)充液氮，操作使用更加方便，并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。

無損：測(cè)試前后，樣品無任何形式的變化。

直觀：實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示元素含量。

測(cè)試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從Na到U。

可靠性高：由于測(cè)試過程無人為干擾因素，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測(cè)量的可靠性更高。

滿足不同需求：測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種先進(jìn)的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。

性價(jià)比高：相比化學(xué)分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。

簡(jiǎn)易：對(duì)人員技術(shù)要求較低，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。