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發(fā)布時(shí)間:2021-01-22 18:55  
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測試速率高,可設(shè)定多通道瞬間多點(diǎn)采集,并通過電腦實(shí)時(shí)輸出。對于一些機(jī)械零件可以做到無損檢測,不破壞樣品。定期更換窗口膜,如測試窗口膜片受到污染或破損,應(yīng)立即更換,避免導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確或污染檢測器。分析速度快,適合做爐前分析或現(xiàn)場分析。測試范圍:可以同時(shí)快速測定金屬固體樣品中的C、Si、Mn、P、S、Cr、Ni、Mo、V、Ti、Cu、Al、W、Co、Nb、Mg、La、Ce、B、Pb、Sn、As、Sb、Bi等各種金屬、非金屬及氣體元素。
紅外碳硫分析儀原理:將試樣在高溫爐中通氧燃燒,生成并逸出CO2和SO2氣體,用此法實(shí)現(xiàn)碳硫元素與金屬元素及其化合物的分離,然后測定CO2和SO2的含量,再換算出試樣中的碳硫含量。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

斯派克的客戶在使用火花直讀光譜儀的過程中會遇到各種問題,現(xiàn)小編綜合概況如下,希望對大家有所幫助:
清理火花臺:激發(fā)時(shí)金屬材料在火花臺內(nèi)產(chǎn)生黑色沉積物可導(dǎo)致電極與火花臺之間短路,所以火花臺應(yīng)定期清理。方法如下:松開螺絲取下火花臺板及電極(包括墊片和電極上的玻璃套管),用吸塵器清理火花臺內(nèi)部。完畢后將火花臺復(fù)位。
判斷激發(fā)斑點(diǎn)
濃縮(凝聚)放電—激發(fā)點(diǎn)中心處侵蝕均勻并有金屬光澤,此為正常放電表明儀器工作正常;
擴(kuò)散放電—激發(fā)點(diǎn)呈白色,強(qiáng)度值低,樣品表面無侵蝕,為非正常放電,應(yīng)檢查激發(fā)過程,包括亞氣、試樣等。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

德國斯派克分析儀器公司,隸屬于美國阿美特克集團(tuán),自1979年成立以來,它不僅繼承了德國光學(xué)儀器制造的傳統(tǒng),而且憑借其獨(dú)特的先進(jìn)技術(shù)和穩(wěn)定可靠的質(zhì)量以及周到的售后服務(wù),始終處于世界發(fā)射光譜技術(shù)的領(lǐng)地位。國產(chǎn)光譜分析技術(shù)近年發(fā)展快速,國產(chǎn)直讀光譜儀慢慢已經(jīng)能夠滿足國內(nèi)大部分市場,光譜技術(shù)在多年來漸漸發(fā)展成熟,很多廠家開始考慮使用國產(chǎn)直讀光譜儀,學(xué)??蒲幸查_始陸續(xù)采購國產(chǎn)直讀光譜儀。目前,已經(jīng)向全世界用戶提供了數(shù)萬臺各類光譜儀,在國內(nèi)已有6000多臺SPECTRO的儀器在運(yùn)行使用。
計(jì)算機(jī)中的軟件數(shù)據(jù)處理系統(tǒng):對電腦接收到的各通道的光強(qiáng)數(shù)據(jù),進(jìn)行各種算法運(yùn)算,得到穩(wěn)定,準(zhǔn)確的樣品含量。
-儀器的新型Spark Analyzer Pro軟件在操作界面簡易性方面達(dá)到時(shí)代性的新水平。軟件中包含簡單直接、不言自明的圖標(biāo),以及熟悉和符合人體工學(xué)的操作方式,幾乎沒有任何學(xué)習(xí)曲線。這種分析方法過程長、強(qiáng)度高、功能單一、穩(wěn)定性差、人為誤差大,已經(jīng)不能滿足時(shí)代的要求,也很難幫助企業(yè)達(dá)到以上四大目標(biāo)。僅授權(quán)用戶能訪問方法開發(fā)/知識庫模塊以進(jìn)行更復(fù)雜的任務(wù)。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

手持合金分析儀的應(yīng)用:合金分析儀是基于X射線理論而誕生的,它主要用于航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場測定。是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域必不可少的快速成份鑒定工具。
手持合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù),可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素,同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素,而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。就是用國級光譜標(biāo)樣,在不同的光譜儀上連續(xù)打10個(gè)點(diǎn),看它的極差或者RSD。如此一來,XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制