電容器的使用壽命

瓷片電容的連續(xù)工作電壓及環(huán)境溫度與使用壽命有一定的關(guān)系。眾所周知在電容器介質(zhì)上的額定工作場強(qiáng)與其它電器相比是比較高的。所以在我國GB/T11024．1-2001中明確規(guī)定，陶瓷電容器的額定工作電壓是電容器容許在電網(wǎng)中連續(xù)工作的z高電壓。如果陶瓷電容器在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的額定電壓及以下運(yùn)行，電容器產(chǎn)品90％能可靠地在網(wǎng)上運(yùn)行20年，如果在高于其額定電壓的電壓下連續(xù)運(yùn)行，電容器的實際使用壽命就將大大縮短，可靠性也將因電老化而下降。

次，瓷片電容的使用壽命長短與環(huán)境溫度有關(guān)系,在低于其允許z低溫度的溫度下投入運(yùn)行，很可能會在電容器內(nèi)部引發(fā)局部放電，從而加速其電老化而降低電容器的實際使用壽命。而另一方面，如果電容器長期在高于其z高允許的溫度下運(yùn)行，又會加速電容器的熱老化。因而一方面要選用其溫度類別與實際的運(yùn)行環(huán)境溫度相適應(yīng)的電容器。              

  瓷片電容的使用壽命長短是與諸多因素有關(guān)的。以上所介紹的是重要的兩個因素，因此想要延長或者是保障其使用壽命，必須要保障這兩個參數(shù)符合電容器的實際參數(shù)。

陶瓷電容的制作原理是什么

用高介電常數(shù)的電容器陶瓷〈鈦酸鋇一氧化鈦〉擠壓成圓管、圓片或圓盤作為介質(zhì)，并用燒滲法將銀鍍在陶瓷上作為電極制成。它又分高頻瓷介和低頻瓷介兩種。具有小的正電容溫度系數(shù)的電容器，用于高穩(wěn)定振蕩回路中，作為回路電容器及墊整電容器。低頻瓷介電容器限于在工作頻率較低的回路中作旁路或隔直流用，或?qū)Ψ€(wěn)定性和損耗要求不高的場合〈包括高頻在內(nèi)〉。這種電容器不宜使用在脈沖電路中，因為它們易于被脈沖電壓擊穿。

向陶瓷電容器施加超過其額定電壓的電壓，會導(dǎo)致短路故障還是開路故障　　

一般來說，向電容器施加過量電壓后都會導(dǎo)致短路故障。片狀獨(dú)石陶瓷電容器的損壞電壓為其額定電壓的5~10倍以上，稍高于額定電壓的外加電壓很難對電容器造成瞬間損壞。

但在使用中如向電容器施加的電壓超過其額定電壓，則不在保修范圍之內(nèi)。

電容器的電壓加速和溫度加速　　

通過電壓加速與溫度加速系數(shù)可推算出電容器的使用壽命。可將產(chǎn)品使用時的外部環(huán)境溫度及施加電壓作為參數(shù)進(jìn)行公式化。 一般來說，阿列紐斯法則被廣泛用于加速公式中，而我們運(yùn)用以下公式便可簡單地進(jìn)行推算。 47_01cn.PNG 在此公式的基礎(chǔ)上，通過在更為嚴(yán)苛的條件(更高溫、更高電壓)下進(jìn)行加速試驗，可推算出產(chǎn)品在實際使用環(huán)境下的使用壽命。 在此，我們一起來比較一下獨(dú)石陶瓷電容器的加速試驗與實際產(chǎn)品使用的假定環(huán)境。我們將電容器的加速試驗中將耐久試驗時間視為LA，將實際使用環(huán)境下的相當(dāng)年數(shù)視為LN，用于上述公式。 耐久試驗條件 假定使用環(huán)境 電壓加速系數(shù) 溫度加速系數(shù) 相應(yīng)年限 TA＝85°C VA＝20V LA＝1000h TN＝65°C VN＝5V n＝4 θ＝8 LN＝？h 這樣，我們即可通過在85°C、施加20V電壓的環(huán)境下進(jìn)行了1000h的耐久試驗，推算出在5°C、施加5V電壓的環(huán)境下產(chǎn)品使用年限為1448155h(≒165年！)。計算中使用的電壓加速系數(shù)、溫度加速系數(shù)會由陶瓷材料的種類及構(gòu)造產(chǎn)生不同，但通過加速計算公式可在相對較短的時間內(nèi)利用試驗結(jié)果來驗證長時間的實際使用環(huán)境中的產(chǎn)品使用壽命。