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發(fā)布時(shí)間:2020-12-19 18:05  

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失效分析技術(shù)  /電子元器件

電子信息技術(shù)是當(dāng)今新技術(shù)革命的核心,電子元器件是發(fā)展電子信息技術(shù)的基礎(chǔ)。了解造成元器件失效的因素,以提高可靠性,是電子信息技術(shù)應(yīng)用的必要保證。開(kāi)展電子元器件失效分析,需要采用一些先進(jìn)的分析測(cè)試技術(shù)和儀器。

1 光學(xué)顯微鏡分析技術(shù)

2 紅外分析技術(shù)

3 聲學(xué)顯微鏡分析

4 液晶熱點(diǎn)檢測(cè)技術(shù)

5 光輻射顯微分析技術(shù)

6 微分析技術(shù)



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正溫度系數(shù)熱敏電阻(PTC)的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí),用萬(wàn)用表R×1擋,具體可分兩步操作:

A 常溫檢測(cè)(室內(nèi)溫度接近25℃);將兩表筆接觸PTC熱敏電阻的兩引腳測(cè)出其實(shí)際阻值,并與標(biāo)稱阻值相對(duì)比,二者相差在±2Ω內(nèi)即為正常。實(shí)際阻值若與標(biāo)稱阻值相差過(guò)大,則說(shuō)明其性能不良或已損壞。

B 加溫檢測(cè);在常溫測(cè)試正常的基礎(chǔ)上,即可進(jìn)行第二步測(cè)試—加溫檢測(cè),將一熱源(例如電烙鐵)靠近PTC熱敏電阻對(duì)其加熱,同時(shí)用萬(wàn)用表監(jiān)測(cè)其電阻值是否隨溫度的升高而增大,如是,說(shuō)明熱敏電阻正常,若阻值無(wú)變化,說(shuō)明其性能變劣,不能繼續(xù)使用。注意不要使熱源與PTC熱敏電阻靠得過(guò)近或直接接觸熱敏電阻,以防止將其燙壞。BGA器件的性能和組裝優(yōu)于常規(guī)的元器件,但是許多生產(chǎn)廠家仍然不愿意投資開(kāi)發(fā)大批量生產(chǎn)BGA器件的能力。



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在當(dāng)今信息時(shí)代,隨著電子工業(yè)的迅猛發(fā)展,計(jì)算機(jī)、移動(dòng)電話等產(chǎn)品日益普及。人們對(duì)電子產(chǎn)品的BGA封裝功能要求越來(lái)越多、對(duì)性能要求越來(lái)越強(qiáng),而體積要求卻越來(lái)越小、重量要求越來(lái)越輕。這就促使電子產(chǎn)品向多功能、和小型化、輕型化方向發(fā)展。為實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo),IC芯片的特征尺寸就要越來(lái)越小,復(fù)雜程度不斷增加,于是,電路的I/O數(shù)就會(huì)越來(lái)越多,封裝的I/O密度就會(huì)不斷增加。對(duì)以中等規(guī)模到大規(guī)模采用BGA器件進(jìn)行電子組裝的廠商,主要是采用電子測(cè)試的方式來(lái)篩選BGA器件的焊接缺陷。為了適應(yīng)這一發(fā)展要求,一些先進(jìn)的高密度封裝技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生,BGA封裝技術(shù)就是其中之一。


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不可拆B(yǎng)GA焊接點(diǎn)的斷路

不可拆B(yǎng)GA焊接點(diǎn)處所發(fā)生的斷路現(xiàn)象,通常是由于焊盤污染所引起的,由于焊料不能潤(rùn)濕印刷電路板上的焊盤,它向上“爬”到焊料球一直到元器件界面上。如前面所敘,電子測(cè)試能夠確定斷路現(xiàn)象的存在,但是不能區(qū)別:這是由于焊盤污染所引起的呢?還是由于焊料漏印工藝過(guò)程控制不住所引起的?利用X射線設(shè)備進(jìn)行測(cè)試,也不能揭示斷路現(xiàn)象,這是因?yàn)槭艿角爸煤缚魄颉瓣幱啊钡挠绊?。利用橫截面X射線檢測(cè)技術(shù),能夠通過(guò)在焊盤層和元器件層中間獲取的圖像切片,辨別出這種由于污染所引起的斷路現(xiàn)象。由于污染所引起的斷路現(xiàn)象,會(huì)產(chǎn)生細(xì)小的焊盤半徑和較大的元器件半徑尺寸,所以可以利用元器件半徑和焊盤半徑的差異來(lái)區(qū)分?jǐn)嗦番F(xiàn)象是否是由于污染引起的。由于焊料不足所引起的斷路現(xiàn)象其半徑之間的差異是非常小的,只有利用橫截面x射線檢測(cè)設(shè)備才能夠辯別出這一差異。PBGA封裝的缺點(diǎn):對(duì)濕氣敏感,不適用于有氣密性要求和可靠性要求高的器件的封裝。