高溫條件下陶瓷電容器擊穿機理：

半密封陶瓷電容器在高濕度環(huán)境條件下工作時，發(fā)生擊穿失效是比較普遍的嚴(yán)重問題。由于陶瓷電容器銀的遷移，陶瓷電容器的電解老化擊穿已成為相當(dāng)普遍的問題。熱擊穿現(xiàn)象多發(fā)生在管形或圓片形的小型瓷介質(zhì)電容器中，因為擊穿時局部發(fā)熱嚴(yán)重，較薄的管壁或較小的瓷體容易燒毀或斷裂。

潮濕對電參數(shù)惡化的影響：

空氣中濕度過高時，水膜凝聚在電容器外殼表面，可使電容器的表面絕緣電阻下降。此外，對于半密封結(jié)構(gòu)電容器來說，水分還可滲透到電容器介質(zhì)內(nèi)部，使電容器介質(zhì)的絕緣電阻絕緣能力下降。

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陶瓷電容的保質(zhì)期

很多商品都會有一個保質(zhì)期，產(chǎn)品也會有自己的一個使用壽命。那么陶瓷電容保質(zhì)期有多久呢？相信很多電子愛好者都想知道。今天蘇州春發(fā)電子的小編就來和大家一起來聊聊有關(guān)于陶瓷電容的保質(zhì)期問題。

的生產(chǎn)設(shè)備，所生產(chǎn)的產(chǎn)品品質(zhì)優(yōu)良，獲得國際產(chǎn)品認證，保證了年生產(chǎn)能力達上億只的水平。

首先我們知道陶瓷電容主要材料是瓷片，瓷片是陶瓷粉末加壓沖片后經(jīng)過上千度高溫?zé)Y(jié)而成，隨時間推移，外觀是不會變化的，所以保存期是無限期，永1久的。但由于瓷介電容器所采用的大多數(shù)是二類陶瓷介質(zhì)，都具有鐵電特性并呈現(xiàn)出一個居里溫度特性 。因此，陶瓷電容有老化衰減現(xiàn)象。

介質(zhì)在實際陶瓷中通常被擴大到一個有限的溫度范圍之內(nèi)，但在所有的情況下，它是電容量在溫度曲線上的某一個峰值 。

在熱波動的影響下，介質(zhì)冷卻至居里溫度之后的很長一段時間內(nèi)，晶體點陣中的離子會連續(xù)運動到勢能較小的位置，這就引起了電容量老化現(xiàn)象。

向陶瓷電容器施加超過其額定電壓的電壓，會導(dǎo)致短路故障還是開路故障　　

一般來說，向電容器施加過量電壓后都會導(dǎo)致短路故障。片狀獨石陶瓷電容器的損壞電壓為其額定電壓的5~10倍以上，稍高于額定電壓的外加電壓很難對電容器造成瞬間損壞。

但在使用中如向電容器施加的電壓超過其額定電壓，則不在保修范圍之內(nèi)。

電容器的電壓加速和溫度加速　　

通過電壓加速與溫度加速系數(shù)可推算出電容器的使用壽命。可將產(chǎn)品使用時的外部環(huán)境溫度及施加電壓作為參數(shù)進行公式化。 一般來說，阿列紐斯法則被廣泛用于加速公式中，而我們運用以下公式便可簡單地進行推算。 47_01cn.PNG 在此公式的基礎(chǔ)上，通過在更為嚴(yán)苛的條件(更高溫、更高電壓)下進行加速試驗，可推算出產(chǎn)品在實際使用環(huán)境下的使用壽命。 在此，我們一起來比較一下獨石陶瓷電容器的加速試驗與實際產(chǎn)品使用的假定環(huán)境。我們將電容器的加速試驗中將耐久試驗時間視為LA，將實際使用環(huán)境下的相當(dāng)年數(shù)視為LN，用于上述公式。 耐久試驗條件 假定使用環(huán)境 電壓加速系數(shù) 溫度加速系數(shù) 相應(yīng)年限 TA＝85°C VA＝20V LA＝1000h TN＝65°C VN＝5V n＝4 θ＝8 LN＝？h 這樣，我們即可通過在85°C、施加20V電壓的環(huán)境下進行了1000h的耐久試驗，推算出在5°C、施加5V電壓的環(huán)境下產(chǎn)品使用年限為1448155h(≒165年！)。計算中使用的電壓加速系數(shù)、溫度加速系數(shù)會由陶瓷材料的種類及構(gòu)造產(chǎn)生不同，但通過加速計算公式可在相對較短的時間內(nèi)利用試驗結(jié)果來驗證長時間的實際使用環(huán)境中的產(chǎn)品使用壽命。