一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

X熒光鍍層測厚儀標準片選擇與使用

1．一般要求

   使用可靠的參考標準塊校準儀器。后的測量不確定度直接取決于校準標準塊的測量不確定度和測量精度。

   參考標準塊應(yīng)具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層，如果是合金，則應(yīng)知其組成。②、X、Y軸水平移動方式水平移動方式一般分為：無X、Y軸移動裝置。參考標準塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規(guī)定以厚度為單位（而不是單位面積質(zhì)量）的標準塊，將是可靠的。合金組成的測定，校準標準不需要相同，但應(yīng)當已知。

金屬箔標準片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標準片，就必須注意確保接觸清潔，無皺折紐結(jié)。任何密度差異，除非測量允許，否則必須進行補償后再測。

2．標準塊的選擇

可用標準塊的單位面積厚度單位校準儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正。能量色散X射線熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。標準片應(yīng)與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標樣基材可與被測試樣基材不同，但前提是標準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。

3．標準塊的X射線發(fā)射（或吸收）特性及使用

   校正標準塊的覆蓋層應(yīng)與被測覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射（或吸收）特性。

如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標準塊的基體應(yīng)與被測試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性，通過比較被測試樣與校正參考標準塊的未鍍基體所選的特征輻射的強度，然后通過軟件達到對儀器的校正。

 在我們的售前服務(wù)工作中，客戶通常都會拿一些在其它機構(gòu)或者儀器測量過的樣品來與我們儀器進行測試結(jié)果對比，在確認雙方儀器都是正常的情況下，會存在或多或少的差異，那么我們務(wù)必要把這個差異的來源分析給客戶，我們在分析之前首先要給客戶解說測試的基本原理，告知此儀器為對比分析測試儀器，然后再談?wù)`差來源，主要來源：

  1、標樣：對比分析儀器是要求有越接近于需測試樣品的標樣，測試結(jié)果越接近實際厚度。確認雙方有沒有在標定和校正時使用標樣？使用的是多少厚度的標樣？

2、樣品材料的詳細信息：如Ni/Cu的樣品，如果一家是按化學(xué)Ni測試，一家是按純Ni測試；Au/Ni/Cu/PCB樣品，一款儀器受Br干擾，一款儀器排除了Br干擾。

   3、測量位置、面積：確定在同一樣品上測試的是否同一位置，因為樣品在電鍍時因電位差不同，各部位厚度是有差異的；確認兩款儀器測量面積的大小有多少差異。

4、樣品形狀：測量的樣品是否是兩款儀器都可測量，或者放置位置是否合適，如突出面有無擋住設(shè)備接收。

X-RAY測厚儀特點

1，價格高，機種不同，價格在10萬~100萬左右，可測試P（磷）~U（鈾），并且支持Rohs及元素分析功能等。

 2，無損檢測，Windows操作系統(tǒng)，使用簡便。操作快速，能適應(yīng)多類鍍層，大量檢測，但體積較大，計算機除外約100000cm2，50000g左右。

3，測量厚度范圍較廣，

0.002um~100um左右，能測試5層以上膜厚，并且可以測量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。

4，測量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。

5，測頭的面積較小，對需測的樣品要求不高：0.1mmψ以下也可測量，基材厚度無要求。

6，可編程XYZ測量臺及大移動范圍。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

一六儀器  X熒光光譜測厚儀

鍍層分析X射線熒光光譜特點

     1.鍍層分析快速、無損，對樣品無需任何處理。一般測試一個點只需要數(shù)10S-1分鐘，分析精度高。

     2.可測試超薄的鍍層。

     3.可測試多鍍層，分析精度遠遠高于其他測量方法。

     4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩(wěn)定，選擇合適的對比分析樣品，就可以準確的分析出合金鍍層的厚度。

     5.對于樣品可進行連續(xù)多點測量，適合分析鍍層的厚度分布情況，并可以對樣品的復(fù)雜面進行測量。

     6.對分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區(qū)別

     7.不可以測試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過40微米。

     8.可以對樣品進行測試

     9.屬于對比分析儀器，測試不同的鍍層樣品需要不同發(fā)鍍層標樣