光學(xué)影像測(cè)量?jī)x檢測(cè)是一種常見(jiàn)測(cè)量技術(shù)，通過(guò)提供了量化的圖像測(cè)量方式，獲得測(cè)量數(shù)據(jù)，從而對(duì)零部件公差尺寸進(jìn)行把控，是機(jī)械、電子制造業(yè)，計(jì)量測(cè)試所廣泛使用的一種多用途計(jì)量?jī)x器。

影像測(cè)量?jī)x的誤差來(lái)源有哪些呢？ （1）光柵尺記數(shù)的偏差; （2）操作臺(tái)挪動(dòng)時(shí)存有的平行度、角擺產(chǎn)生的偏差; （3）操作臺(tái)兩精l確測(cè)量軸平整度帶的偏差; （4）攝像鏡頭直線光軸與操作臺(tái)不垂直帶的偏差; （5）精l確測(cè)量工作溫度轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的偏差; （6）燈源照明燈具標(biāo)準(zhǔn)的轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的自動(dòng)對(duì)焦和指向偏差。

適用于各種材料的非接觸式三維表面分析NanoFocus測(cè)量系統(tǒng)能夠快速、有效地對(duì)幾乎所有材料——從金屬、玻璃、陶瓷、半導(dǎo)體、聚合物到有機(jī)材料——進(jìn)行三維表面分析。共焦技術(shù)能夠測(cè)量各種表面反射特性的材料并獲得有效的測(cè)量數(shù)據(jù)。采用NanoFocus技術(shù)的μsurf、μscan和μsprint能夠在生產(chǎn)和加工的不同階段對(duì)敏感表面進(jìn)行無(wú)損測(cè)量，透明涂層表面和層厚也可以同時(shí)測(cè)量。

無(wú)需樣品制備即可在幾秒鐘內(nèi)獲取真正的3D數(shù)據(jù)，進(jìn)而對(duì)表面進(jìn)行定性和定量的評(píng)估。NanoFocus為測(cè)量數(shù)據(jù)的分析提供了強(qiáng)大的綜合軟件解決方案以便確定相關(guān)參數(shù)。

三維表面測(cè)量?jī)x優(yōu)勢(shì)：在測(cè)量部件復(fù)雜，測(cè)量面陡峭和測(cè)量材料屬性多樣的情況下，InfiniteFocus G4亦可實(shí)現(xiàn)高分辨率測(cè)量。這同樣適用于光面部件或者小半徑和小角度的形貌。每個(gè)測(cè)量都提供了儲(chǔ)存到3D數(shù)據(jù)的顏色信息?！　∪S表面測(cè)量?jī)x主要特點(diǎn)：　　1、能夠同時(shí)測(cè)量形貌和粗糙度　　2、能夠測(cè)量小半徑和小角度　　3、能夠測(cè)量超過(guò)80°的斜面　　4、標(biāo)準(zhǔn)真實(shí)的顏色信息　　5、提供360°的形狀和粗擦度測(cè)量　　6、檢測(cè)具有不同表面特征的表面