能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

江蘇一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性?xún)r(jià)比X熒光測(cè)厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專(zhuān)利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

能量色散X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測(cè)、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級(jí)X射線。

它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時(shí)冷卻。色散單元的作用是分出想要波長(zhǎng)的X射線。它由樣品室、狹縫、測(cè)角儀、分析晶體等部分組成。

能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

能量色散X射線熒光光譜儀是一種波長(zhǎng)較短的電磁輻射，凡間是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射線熒光光譜儀與物質(zhì)的互相效果首要有熒光、接收和散射三種。

能量色散X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的構(gòu)成元素發(fā)生的特征輻射，經(jīng)過(guò)側(cè)里和剖析樣品發(fā)生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家構(gòu)成，獲得物質(zhì)成分的定性和定量信息。

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X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些

第二,在X射線測(cè)厚儀通過(guò)施加高壓釋放出X射線時(shí),X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會(huì)影響X射線對(duì)被測(cè)物體的測(cè)量。尤其是在熱軋的過(guò)程中,測(cè)量的空間大X射線途經(jīng)的環(huán)境就比較大,當(dāng)溫度高時(shí),測(cè)量值減小,當(dāng)溫度低時(shí),測(cè)量值則增加。

第三,在測(cè)量過(guò)程中,被測(cè)物體上,可能會(huì)有附著物,也會(huì)影響測(cè)量的精度。比如,在軋制生產(chǎn)中,測(cè)量的鋼板上可能會(huì)附著著水、油或者氧化物,這都會(huì)對(duì)X射線測(cè)厚儀的測(cè)量值造成影響,出現(xiàn)誤差。另外,被測(cè)量的物體,可能會(huì)上下跳動(dòng),偏離測(cè)量時(shí)的位置,這種傾斜也會(huì)影響測(cè)量的精度。測(cè)厚儀測(cè)厚儀（thicknessgauge）是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。 

一六儀器X射線熒光測(cè)厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來(lái)電咨詢(xún)！

不同種類(lèi)的測(cè)厚儀的應(yīng)用

1、薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

2、X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，一六儀器從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。

應(yīng)用領(lǐng)域：

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業(yè)

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽車(chē)、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)

衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

電鍍液的金屬陽(yáng)離子檢測(cè)

3、涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

X射線熒光分析儀的應(yīng)用

X射線熒光分析儀的不斷完善和發(fā)展所帶動(dòng)的X 射線熒光分析技術(shù)已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、刑偵、考古等諸多部門(mén)和領(lǐng)域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對(duì)其物質(zhì)的化學(xué)元素、物相、化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、物證材料進(jìn)行試測(cè)，對(duì)產(chǎn)品和材料質(zhì)量進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，對(duì)人體進(jìn)檢和微電路的光刻檢驗(yàn)等的重要分析手段，也是材料科學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等普遍采用的一種快速、準(zhǔn)確而又經(jīng)濟(jì)的多元素分析方法。同時(shí)，X 射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場(chǎng)分析和過(guò)程控制分析等方面shou  xuan器之一。影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些。